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Accelerated stress testing, qualification testing, HAST, field experience - what do they all mean? / / John Wohlgemuth
Accelerated stress testing, qualification testing, HAST, field experience - what do they all mean? / / John Wohlgemuth
Autore Wohlgemuth J (John), <1946->
Pubbl/distr/stampa [Golden, Colo.] : , : National Renewable Energy Laboratory, , 2013
Descrizione fisica 1 online resource (27 pages) : color illustrations
Collana NREL/PR
Soggetto topico Silicon solar cells - Testing
Photovoltaic power systems - Testing
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910704809403321
Wohlgemuth J (John), <1946->  
[Golden, Colo.] : , : National Renewable Energy Laboratory, , 2013
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Relationship of recombination lifetime and dark current in silicon p-n junctions [[electronic resource] /] / R.K. Ahrenkiel ... [and others]
Relationship of recombination lifetime and dark current in silicon p-n junctions [[electronic resource] /] / R.K. Ahrenkiel ... [and others]
Pubbl/distr/stampa Golden, Colo. : , : National Renewable Energy Laboratory, , [2005]
Descrizione fisica 1 volume : digital, PDF file
Altri autori (Persone) AhrenkielRichard K
Collana NREL/CP
Soggetto topico Photovoltaic cells - Testing
Silicon solar cells - Testing
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910698106803321
Golden, Colo. : , : National Renewable Energy Laboratory, , [2005]
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui