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1997 2nd International Symposium on Plasma Process-Induced Damage : 13-14 May 1997, Monterey, California, USA
1997 2nd International Symposium on Plasma Process-Induced Damage : 13-14 May 1997, Monterey, California, USA
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : Northern California Chapter of the American Vacuum Society, 1997
Disciplina 621.3815/2
Soggetto topico Semiconductor wafers - Defects
Semiconductors - Effect of radiation on
Plasma etching - Congresses
Electrical & Computer Engineering
Electrical Engineering
Engineering & Applied Sciences
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996206561003316
[Place of publication not identified], : Northern California Chapter of the American Vacuum Society, 1997
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui
1998 3rd International Symposium on Plasma Process-Induced Damage : June 4-5, 1998, Honolulu, Hawaii, USA
1998 3rd International Symposium on Plasma Process-Induced Damage : June 4-5, 1998, Honolulu, Hawaii, USA
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : Northern California Chapter of the American Vacuum Society, 1998
Disciplina 621.3815/2
Soggetto topico Semiconductor wafers - Defects
Semiconductors - Effect of radiation on
Plasma etching
Electrical & Computer Engineering
Engineering & Applied Sciences
Electrical Engineering
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996206560303316
[Place of publication not identified], : Northern California Chapter of the American Vacuum Society, 1998
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui