top

  Info

  • Utilizzare la checkbox di selezione a fianco di ciascun documento per attivare le funzionalità di stampa, invio email, download nei formati disponibili del (i) record.

  Info

  • Utilizzare questo link per rimuovere la selezione effettuata.

Biblioteca

MARC Lista (tabellare)
Crystals, x-rays and proteins / Dennis Sherwood
Crystals, x-rays and proteins / Dennis Sherwood
Autore SHERWOOD, Dennis
Pubbl/distr/stampa London : Longman, 1976
Descrizione fisica XII, 702 p. : ill. ; 23 cm
Disciplina 539.72
Soggetto topico Raggi X - Diffrazione
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-990003317620203316
SHERWOOD, Dennis  
London : Longman, 1976
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui
Elementi di strutturistica chimica diffrattometrica / Roberto Zannetti, Giancarlo Celotti ; presentazione del Giovanni Semerano
Elementi di strutturistica chimica diffrattometrica / Roberto Zannetti, Giancarlo Celotti ; presentazione del Giovanni Semerano
Autore ZANNETTI, Roberto
Pubbl/distr/stampa Padova : Piccin, 1969
Descrizione fisica XIII, 367 p. ; 24 cm
Disciplina 548.83
Altri autori (Persone) CELOTTI, Giancarlo
Collana Collana Universitaria Didattica, Serie di chimica
Soggetto topico Raggi X - Diffrazione
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione ita
Record Nr. UNISA-990005813930203316
ZANNETTI, Roberto  
Padova : Piccin, 1969
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui
Modern powder diffraction / D. L. Bish and J. E. Post, editors
Modern powder diffraction / D. L. Bish and J. E. Post, editors
Pubbl/distr/stampa Washington, D. C., : Mineralogical society of America, 1989
Descrizione fisica XI, 369 p. ; 23 cm
Disciplina 548.83
Soggetto topico Diffrazione di polveri
Raggi X - Diffrazione
ISBN 0939950243
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAS-UFI0080712
Washington, D. C., : Mineralogical society of America, 1989
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Cassino e del Lazio Meridionale
Opac: Controlla la disponibilità qui
The optical principles of the diffraction of x-rays / R.W. James
The optical principles of the diffraction of x-rays / R.W. James
Autore JAMES, R.W.
Pubbl/distr/stampa Woodbridge : Ox Bow Press (, 1962)
Descrizione fisica XVI, 664 p. : ill. ; 25 cm
Disciplina 548.83
Soggetto topico Raggi X - Diffrazione
Soggetto non controllato Cristallografia
ISBN 0-918024-23-4
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-990000332330203316
JAMES, R.W.  
Woodbridge : Ox Bow Press (, 1962)
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui
X-ray diffraction / B. E. Warren
X-ray diffraction / B. E. Warren
Autore Warren, B. E.
Pubbl/distr/stampa New York, : Dover, 1990
Descrizione fisica X, 381 p. ; 22 cm
Disciplina 548.83
Soggetto topico Raggi X - Diffrazione
ISBN 0486663175
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAS-MIL0606572
Warren, B. E.  
New York, : Dover, 1990
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Cassino e del Lazio Meridionale
Opac: Controlla la disponibilità qui
X-ray metrology in semiconductor manufacturing / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
X-ray metrology in semiconductor manufacturing / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
Autore Bowen, David Keith <1940- >
Pubbl/distr/stampa Boca Raton [etc.], : CRC, : Taylor & Francis, 2006
Descrizione fisica 279 p. : ill. ; 25 cm.
Disciplina 621.3815
621.38152
Altri autori (Persone) Tanner, Brian K.
Soggetto topico Semiconduttori
Raggi X - Diffrazione
ISBN 0849339286
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISANNIO-NAP0472458
Bowen, David Keith <1940- >  
Boca Raton [etc.], : CRC, : Taylor & Francis, 2006
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. del Sannio
Opac: Controlla la disponibilità qui