Crystals, x-rays and proteins / Dennis Sherwood |
Autore | SHERWOOD, Dennis |
Pubbl/distr/stampa | London : Longman, 1976 |
Descrizione fisica | XII, 702 p. : ill. ; 23 cm |
Disciplina | 539.72 |
Soggetto topico | Raggi X - Diffrazione |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISA-990003317620203316 |
SHERWOOD, Dennis | ||
London : Longman, 1976 | ||
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Elementi di strutturistica chimica diffrattometrica / Roberto Zannetti, Giancarlo Celotti ; presentazione del Giovanni Semerano |
Autore | ZANNETTI, Roberto |
Pubbl/distr/stampa | Padova : Piccin, 1969 |
Descrizione fisica | XIII, 367 p. ; 24 cm |
Disciplina | 548.83 |
Altri autori (Persone) | CELOTTI, Giancarlo |
Collana | Collana Universitaria Didattica, Serie di chimica |
Soggetto topico | Raggi X - Diffrazione |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | ita |
Record Nr. | UNISA-990005813930203316 |
ZANNETTI, Roberto | ||
Padova : Piccin, 1969 | ||
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Modern powder diffraction / D. L. Bish and J. E. Post, editors |
Pubbl/distr/stampa | Washington, D. C., : Mineralogical society of America, 1989 |
Descrizione fisica | XI, 369 p. ; 23 cm |
Disciplina | 548.83 |
Soggetto topico |
Diffrazione di polveri
Raggi X - Diffrazione |
ISBN | 0939950243 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNICAS-UFI0080712 |
Washington, D. C., : Mineralogical society of America, 1989 | ||
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The optical principles of the diffraction of x-rays / R.W. James |
Autore | JAMES, R.W. |
Pubbl/distr/stampa | Woodbridge : Ox Bow Press (, 1962) |
Descrizione fisica | XVI, 664 p. : ill. ; 25 cm |
Disciplina | 548.83 |
Soggetto topico | Raggi X - Diffrazione |
Soggetto non controllato | Cristallografia |
ISBN | 0-918024-23-4 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISA-990000332330203316 |
JAMES, R.W. | ||
Woodbridge : Ox Bow Press (, 1962) | ||
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X-ray diffraction / B. E. Warren |
Autore | Warren, B. E. |
Pubbl/distr/stampa | New York, : Dover, 1990 |
Descrizione fisica | X, 381 p. ; 22 cm |
Disciplina | 548.83 |
Soggetto topico | Raggi X - Diffrazione |
ISBN | 0486663175 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNICAS-MIL0606572 |
Warren, B. E. | ||
New York, : Dover, 1990 | ||
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X-ray metrology in semiconductor manufacturing / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner |
Autore | Bowen, David Keith <1940- > |
Pubbl/distr/stampa | Boca Raton [etc.], : CRC, : Taylor & Francis, 2006 |
Descrizione fisica | 279 p. : ill. ; 25 cm. |
Disciplina |
621.3815
621.38152 |
Altri autori (Persone) | Tanner, Brian K. |
Soggetto topico |
Semiconduttori
Raggi X - Diffrazione |
ISBN | 0849339286 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISANNIO-NAP0472458 |
Bowen, David Keith <1940- > | ||
Boca Raton [etc.], : CRC, : Taylor & Francis, 2006 | ||
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