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The design of optical spectrometers / J. James, R.S. Sternberg
The design of optical spectrometers / J. James, R.S. Sternberg
Autore James, J.
Pubbl/distr/stampa London : Chapman and Hall, 1969
Descrizione fisica xii, 239 p. : ill. ; 23 cm.
Altri autori (Persone) Sternberg, R.S.
Soggetto topico Optical spectrometers
Classificazione 53.0.64
535'.84
QC33
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISALENTO-991000885779707536
James, J.  
London : Chapman and Hall, 1969
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. del Salento
Opac: Controlla la disponibilità qui
Scanning electron microscope optics and spectrometers [[electronic resource] /] / Anjam Khursheed
Scanning electron microscope optics and spectrometers [[electronic resource] /] / Anjam Khursheed
Autore Khursheed Anjam
Pubbl/distr/stampa Singapore ; ; Hackensack, N.J., : World Scientific Pub. Co., 2011
Descrizione fisica 1 online resource (400 p.)
Disciplina 681.413
Soggetto topico Scanning electron microscopes
Optical spectrometers
Soggetto genere / forma Electronic books.
ISBN 1-283-14355-0
9786613143556
981-283-668-3
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Nota di contenuto Dedication; Preface; Contents; Chapter 1 Conventional SEM Design; Chapter 2 Spectrometer Design Principles; Chapter 3 In-lens Improvements; Chapter 4 Sub-nanometer Probe Diameters; Chapter 5 Secondary Electron Spectrometers; Chapter 6 Full Range Deflector Spectrometer Designs; Chapter 7 Full Range Parallel Energy Spectrometer Designs; Chapter 8 Spectroscopic SEM proposals; Appendix 1.0 Field Expansions; Appendix 1.1 Derivation of the Paraxial Equation; Appendix 1.2 Spherical Aberration; Appendix 1.3 Chromatic Aberration; Appendix 2 Multipole Lenses; Bibliography; Index
Record Nr. UNINA-9910461623303321
Khursheed Anjam  
Singapore ; ; Hackensack, N.J., : World Scientific Pub. Co., 2011
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Scanning electron microscope optics and spectrometers [[electronic resource] /] / Anjam Khursheed
Scanning electron microscope optics and spectrometers [[electronic resource] /] / Anjam Khursheed
Autore Khursheed Anjam
Pubbl/distr/stampa Singapore ; ; Hackensack, N.J., : World Scientific Pub. Co., 2011
Descrizione fisica 1 online resource (400 p.)
Disciplina 681.413
Soggetto topico Scanning electron microscopes
Optical spectrometers
ISBN 1-283-14355-0
9786613143556
981-283-668-3
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Nota di contenuto Dedication; Preface; Contents; Chapter 1 Conventional SEM Design; Chapter 2 Spectrometer Design Principles; Chapter 3 In-lens Improvements; Chapter 4 Sub-nanometer Probe Diameters; Chapter 5 Secondary Electron Spectrometers; Chapter 6 Full Range Deflector Spectrometer Designs; Chapter 7 Full Range Parallel Energy Spectrometer Designs; Chapter 8 Spectroscopic SEM proposals; Appendix 1.0 Field Expansions; Appendix 1.1 Derivation of the Paraxial Equation; Appendix 1.2 Spherical Aberration; Appendix 1.3 Chromatic Aberration; Appendix 2 Multipole Lenses; Bibliography; Index
Record Nr. UNINA-9910789407403321
Khursheed Anjam  
Singapore ; ; Hackensack, N.J., : World Scientific Pub. Co., 2011
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
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Scanning electron microscope optics and spectrometers [[electronic resource] /] / Anjam Khursheed
Scanning electron microscope optics and spectrometers [[electronic resource] /] / Anjam Khursheed
Autore Khursheed Anjam
Pubbl/distr/stampa Singapore ; ; Hackensack, N.J., : World Scientific Pub. Co., 2011
Descrizione fisica 1 online resource (400 p.)
Disciplina 681.413
Soggetto topico Scanning electron microscopes
Optical spectrometers
ISBN 1-283-14355-0
9786613143556
981-283-668-3
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Nota di contenuto Dedication; Preface; Contents; Chapter 1 Conventional SEM Design; Chapter 2 Spectrometer Design Principles; Chapter 3 In-lens Improvements; Chapter 4 Sub-nanometer Probe Diameters; Chapter 5 Secondary Electron Spectrometers; Chapter 6 Full Range Deflector Spectrometer Designs; Chapter 7 Full Range Parallel Energy Spectrometer Designs; Chapter 8 Spectroscopic SEM proposals; Appendix 1.0 Field Expansions; Appendix 1.1 Derivation of the Paraxial Equation; Appendix 1.2 Spherical Aberration; Appendix 1.3 Chromatic Aberration; Appendix 2 Multipole Lenses; Bibliography; Index
Record Nr. UNINA-9910808833503321
Khursheed Anjam  
Singapore ; ; Hackensack, N.J., : World Scientific Pub. Co., 2011
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
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