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Lightning pin injection test [[electronic resource] ] : MOSFETS in "ON" state / / Jay J. Ely ... [and others]
| Lightning pin injection test [[electronic resource] ] : MOSFETS in "ON" state / / Jay J. Ely ... [and others] |
| Pubbl/distr/stampa | Hampton, Va. : , : National Aeronautics and Space Administration, Langley Research Center, , [2011] |
| Descrizione fisica | 1 online resource (33 pages) : color illustrations |
| Altri autori (Persone) | ElyJay J |
| Collana | NASA/TM |
| Soggetto topico |
X ray inspection
Damage assessment Lightning Metal oxide semiconductors Optical microscopes Waveforms |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | Lightning pin injection test |
| Record Nr. | UNINA-9910700601403321 |
| Hampton, Va. : , : National Aeronautics and Space Administration, Langley Research Center, , [2011] | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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Ultra-high resolution water window x-ray microscope optical design and analysis, purchase order N. H-13006D : final report, 1993 / / D.L. Shealy and C. Wang
| Ultra-high resolution water window x-ray microscope optical design and analysis, purchase order N. H-13006D : final report, 1993 / / D.L. Shealy and C. Wang |
| Autore | Shealy David L. |
| Pubbl/distr/stampa | [Washington, D.C.] : , : [National Aeronautics and Space Administration], , June 1993 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (35 unnumbered pages) : illustrations |
| Collana | NASA/CR |
| Soggetto topico |
High resolution
Optical microscopes Microscopes Windows (apertures) Design analysis |
| Soggetto genere / forma | Online resources. |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | Ultra-high resolution water window x-ray microscope optical design and analysis, purchase order N. H-13006D |
| Record Nr. | UNINA-9910709963503321 |
Shealy David L.
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| [Washington, D.C.] : , : [National Aeronautics and Space Administration], , June 1993 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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Soggetto topico
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Optical microscopes
(2)
- Damage assessment (1)
- Design analysis (1)
- High resolution (1)
- Lightning (1)