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1838-2019 - IEEE Standard for Test Access Architecture for Three-Dimensional Stacked Integrated Circuits / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| 1838-2019 - IEEE Standard for Test Access Architecture for Three-Dimensional Stacked Integrated Circuits / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | New York, New York : , : IEEE, , 2020 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (73 pages) |
| Disciplina | 621.38132 |
| Soggetto topico | Microwave transmission lines - Standards |
| ISBN | 1-5044-6343-9 |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910389519303321 |
| New York, New York : , : IEEE, , 2020 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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1838-2019 - IEEE Standard for Test Access Architecture for Three-Dimensional Stacked Integrated Circuits / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| 1838-2019 - IEEE Standard for Test Access Architecture for Three-Dimensional Stacked Integrated Circuits / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | New York, New York : , : IEEE, , 2020 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (73 pages) |
| Disciplina | 621.38132 |
| Soggetto topico | Microwave transmission lines - Standards |
| ISBN | 1-5044-6343-9 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-996574960003316 |
| New York, New York : , : IEEE, , 2020 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
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