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A brief test of the Hewlett-Packard MEMS seismic accelerometer / / by Brian D. Homeijer, Donald J. Milligan, and Charles R. Hutt
| A brief test of the Hewlett-Packard MEMS seismic accelerometer / / by Brian D. Homeijer, Donald J. Milligan, and Charles R. Hutt |
| Autore | Scharer Katherine M. |
| Pubbl/distr/stampa | Reston, Virginia : , : U.S. Department of the Interior, U.S. Geological Survey, , 2014 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (iv, 18 pages) : illustration (chiefly color) |
| Collana | Open-file report |
| Soggetto topico |
Microelectromechanical systems - Testing
Microtechnology - Testing Accelerometers - Testing Seismometers - Testing |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | Brief test of the Hewlett-Packard Micro-ElectroMechanical Systems seismic accelerometer |
| Record Nr. | UNINA-9910711927503321 |
Scharer Katherine M.
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| Reston, Virginia : , : U.S. Department of the Interior, U.S. Geological Survey, , 2014 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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Photo-excited processes, diagnostics, and applications : fundamentals and advanced topics / edited by A. Peled
| Photo-excited processes, diagnostics, and applications : fundamentals and advanced topics / edited by A. Peled |
| Pubbl/distr/stampa | Boston : Kluwer, c2003 |
| Descrizione fisica | xv, 370 p. : ill. ; 25 cm |
| Disciplina | 621.3815 |
| Altri autori (Persone) | Peled, Aaron |
| Soggetto topico |
Integrated circuits - Design and construction
Microtechnology - Testing Microelectronics - Materials Photon beams Photochemistry |
| ISBN | 1402075278 |
| Classificazione |
LC TK7874
53.5.44 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISALENTO-991000937889707536 |
| Boston : Kluwer, c2003 | ||
| Materiale a stampa | ||
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