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Measurement technology for micro-nanometer devices / / Wendong Zhang [and eight others]
| Measurement technology for micro-nanometer devices / / Wendong Zhang [and eight others] |
| Pubbl/distr/stampa | Singapore : , : Wiley : , : National Defense Industry Press, , 2017 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (344 pages) |
| Disciplina | 681/.2 |
| Soggetto topico |
Microtechnology - Measurement
Nanotechnology - Measurement Microelectromechanical systems - Testing Physical measurements |
| Soggetto genere / forma | Electronic books. |
| ISBN | 1-118-71797-X |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910134877503321 |
| Singapore : , : Wiley : , : National Defense Industry Press, , 2017 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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Measurement technology for micro-nanometer devices / / Wendong Zhang [and eight others]
| Measurement technology for micro-nanometer devices / / Wendong Zhang [and eight others] |
| Pubbl/distr/stampa | Singapore : , : Wiley : , : National Defense Industry Press, , 2017 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (344 pages) |
| Disciplina | 681/.2 |
| Soggetto topico |
Microtechnology - Measurement
Nanotechnology - Measurement Microelectromechanical systems - Testing Physical measurements |
| ISBN | 1-118-71797-X |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910830417603321 |
| Singapore : , : Wiley : , : National Defense Industry Press, , 2017 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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