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Elastic and inelastic scattering in electron diffraction and imaging / Zhong Lin Wang
Elastic and inelastic scattering in electron diffraction and imaging / Zhong Lin Wang
Autore Wang, Zhong Lin
Pubbl/distr/stampa New York, : Plenum Press, c1995
Descrizione fisica XXVII, 448 p. ; 24 cm.
Disciplina 539.758
Soggetto topico Microscopio elettronico
Scattering
ISBN 0306449293
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAS-RML0302807
Wang, Zhong Lin  
New York, : Plenum Press, c1995
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Cassino e del Lazio Meridionale
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Electron microprobe analysis / S. J. B. Reed
Electron microprobe analysis / S. J. B. Reed
Autore Reed, S. J. B.
Pubbl/distr/stampa Cambridge...[etc.] : Cambridge University Press, 1975
Descrizione fisica XVI, 400 p., [8] p. di tav. : ill. ; 23 cm.
Disciplina 502.82
Collana Cambridge monographs on physics
Soggetto topico Microscopio elettronico
ISBN 0 521 20466 6
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNIBAS-000012393
Reed, S. J. B.  
Cambridge...[etc.] : Cambridge University Press, 1975
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. della Basilicata
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Scanning and transmission electron microscopy : an introduction / Stanley L. Flegler, John W. Heckman, Karen L. Klomparens
Scanning and transmission electron microscopy : an introduction / Stanley L. Flegler, John W. Heckman, Karen L. Klomparens
Autore Flegler, Stanley L.
Pubbl/distr/stampa New York ; Oxford, : Oxford University Press, ©1993
Descrizione fisica VIII, 225 p. ; 26 cm.
Disciplina 502.825
Altri autori (Persone) Heckman, John W.
Klomparens, Karen L.
Soggetto topico Microscopio elettronico
ISBN 0195107519
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAS-TO01426813
Flegler, Stanley L.  
New York ; Oxford, : Oxford University Press, ©1993
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Cassino e del Lazio Meridionale
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