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Metrology and fundamental constants = Metrologia e costanti fondamentali / edited by T.W. Hänsch, S. Leschiutta and A.J. Wallard, directors of the course (Varenna on Lake Como, Villa Monastero, 18-28 July 2006) and by M.L. Rastello
Metrology and fundamental constants = Metrologia e costanti fondamentali / edited by T.W. Hänsch, S. Leschiutta and A.J. Wallard, directors of the course (Varenna on Lake Como, Villa Monastero, 18-28 July 2006) and by M.L. Rastello
Autore International School of Physics "Enrico Fermi"Meeting <2006 ; Varenna, Italy>
Pubbl/distr/stampa Amsterdam : IOS Press
Descrizione fisica xxii, 649 p. : ill. ; 25 cm
Disciplina 530.8
Altri autori (Persone) Hänsch, T.W.
Leschiutta, S.
Wallard, A.J.
Altri autori (Enti) Società Italiana di Fisica
Collana Proceedings of the International School of Physics "Enrico Fermi" ; course 166
Rendiconti della Scuola Internazionale di Fisica "Enrico Fermi" ; 166
Soggetto topico Mensuration - Congresses
Physical constants - Congresses
ISBN 9781586037840 (IOS Press)
9788874380374 (SIF)
Classificazione LC QC39
53.0.4
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISALENTO-991003164149707536
International School of Physics "Enrico Fermi"Meeting <2006 ; Varenna, Italy>  
Amsterdam : IOS Press
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. del Salento
Opac: Controlla la disponibilità qui
Metrology at the frontiers of physics and technology = La metrologia ai confini tra fisica e tecnologia / edited by L. Crovini and T.J. Quinn, directors of the course S. Terenzo di Lerici, Villa Marigola, 27 June-7 July 1989
Metrology at the frontiers of physics and technology = La metrologia ai confini tra fisica e tecnologia / edited by L. Crovini and T.J. Quinn, directors of the course S. Terenzo di Lerici, Villa Marigola, 27 June-7 July 1989
Autore International School of Physics "Enrico Fermi"Meeting <1989 ; Lerici, Italy>
Pubbl/distr/stampa Amsterdam ; New York : North-Holland
Descrizione fisica xviii, 646 p. : ill. ; 25 cm
Disciplina 530.8
Altri autori (Persone) Crovini, L.
Quinn, T. J.
Altri autori (Enti) Società Italiana di Fisica
Collana Proceedings of the International School of Physics "Enrico Fermi" ; course 110
Rendiconti della Scuola Internazionale di Fisica "Enrico Fermi" ; 110
Soggetto topico Physical measurements - Congresses
Mensuration - Congresses
ISBN 0444897704
Classificazione LC QC39
53.0.4
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISALENTO-991003277349707536
International School of Physics "Enrico Fermi"Meeting <1989 ; Lerici, Italy>  
Amsterdam ; New York : North-Holland
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. del Salento
Opac: Controlla la disponibilità qui
Recent advances in metrology and fundamental constants = Metrologia e costanti fondamentali : recenti sviluppi / edited by T.J. Quinn and S. Leschiutta, directors of the course (Varenna on Lake Como, Villa Monastero, 25 July-4 August 2000) and by P. Tavella
Recent advances in metrology and fundamental constants = Metrologia e costanti fondamentali : recenti sviluppi / edited by T.J. Quinn and S. Leschiutta, directors of the course (Varenna on Lake Como, Villa Monastero, 25 July-4 August 2000) and by P. Tavella
Autore International School of Physics "Enrico Fermi"Meeting <2000 ; Varenna, Italy>
Pubbl/distr/stampa Amsterdam : IOS Press
Descrizione fisica xxii, 827 p. : ill. ; 25 cm
Altri autori (Persone) Quinn, Terry J.
Leschiutta, S.
Tavella, Patrizia
Altri autori (Enti) Società Italiana di Fisica
Collana Proceedings of the International School of Physics "Enrico Fermi" ; course 146
Rendiconti della Scuola Internazionale di Fisica "Enrico Fermi" ; 146
Soggetto topico Mensuration - Congresses
Physical constants - Congresses
ISBN 1586031678 (IOS Press)
4274904563 (Ohmsha)
Classificazione LC QC1
53.0.4
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISALENTO-991001127309707536
International School of Physics "Enrico Fermi"Meeting <2000 ; Varenna, Italy>  
Amsterdam : IOS Press
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. del Salento
Opac: Controlla la disponibilità qui