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IEC standard testability method for embedded core-based integrated circuits
| IEC standard testability method for embedded core-based integrated circuits |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2007 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (349 pages) |
| Disciplina | 621.38173 |
| Soggetto topico |
Embedded computer systems - Testing - Standards
Systems on a chip - Testing - Standards Integrated circuits - Testing - Standards |
| ISBN | 0-7381-5724-4 |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-996279341603316 |
| New York : , : IEEE, , 2007 | ||
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IEC standard testability method for embedded core-based integrated circuits
| IEC standard testability method for embedded core-based integrated circuits |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2007 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (349 pages) |
| Disciplina | 621.38173 |
| Soggetto topico |
Embedded computer systems - Testing - Standards
Systems on a chip - Testing - Standards Integrated circuits - Testing - Standards |
| ISBN | 0-7381-5724-4 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910141756603321 |
| New York : , : IEEE, , 2007 | ||
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IEEE Standard for Boundary-Scan Testing of Advanced Digital Networks : IEEE Std 1149.6-2003 / / IEEE Computer Society Test Technology Standards Committee, Institute of Electrical and Electronics Engineers, IEEE-SA Standards Board
| IEEE Standard for Boundary-Scan Testing of Advanced Digital Networks : IEEE Std 1149.6-2003 / / IEEE Computer Society Test Technology Standards Committee, Institute of Electrical and Electronics Engineers, IEEE-SA Standards Board |
| Pubbl/distr/stampa | New York, N.Y. : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2003 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (vi, 132 pages) : illustrations |
| Disciplina | 621.381531 |
| Soggetto topico |
Boundary scan testing - Standards
Integrated circuits - Testing - Standards |
| ISBN | 0-7381-3577-1 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | IEEE Std 1149.6-2003 |
| Record Nr. | UNISA-996280528003316 |
| New York, N.Y. : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2003 | ||
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IEEE Standard for Boundary-Scan Testing of Advanced Digital Networks : IEEE Std 1149.6-2003 / / IEEE Computer Society Test Technology Standards Committee, Institute of Electrical and Electronics Engineers, IEEE-SA Standards Board
| IEEE Standard for Boundary-Scan Testing of Advanced Digital Networks : IEEE Std 1149.6-2003 / / IEEE Computer Society Test Technology Standards Committee, Institute of Electrical and Electronics Engineers, IEEE-SA Standards Board |
| Pubbl/distr/stampa | New York, N.Y. : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2003 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (vi, 132 pages) : illustrations |
| Disciplina | 621.381531 |
| Soggetto topico |
Boundary scan testing - Standards
Integrated circuits - Testing - Standards |
| ISBN | 0-7381-3577-1 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | IEEE Std 1149.6-2003 |
| Record Nr. | UNINA-9910147228303321 |
| New York, N.Y. : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2003 | ||
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Standard for extensions to standard test interface language (STIL) for semiconductor design environments
| Standard for extensions to standard test interface language (STIL) for semiconductor design environments |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2007 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (93 pages) |
| Disciplina | 621.392 |
| Soggetto topico |
Computer hardware description languages - Standards
Integrated circuits - Testing - Standards |
| ISBN | 0-7381-5722-8 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910141756303321 |
| New York : , : IEEE, , 2007 | ||
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Standard for extensions to standard test interface language (STIL) for semiconductor design environments
| Standard for extensions to standard test interface language (STIL) for semiconductor design environments |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2007 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (93 pages) |
| Disciplina | 621.392 |
| Soggetto topico |
Computer hardware description languages - Standards
Integrated circuits - Testing - Standards |
| ISBN | 0-7381-5722-8 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-996279341903316 |
| New York : , : IEEE, , 2007 | ||
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Standard test interface language (STIL) for digital test vector data
| Standard test interface language (STIL) for digital test vector data |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2007 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (148 pages) |
| Disciplina | 621.38150287 |
| Soggetto topico | Integrated circuits - Testing - Standards |
| ISBN | 0-7381-5721-X |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-996279341703316 |
| New York : , : IEEE, , 2007 | ||
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Standard test interface language (STIL) for digital test vector data
| Standard test interface language (STIL) for digital test vector data |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2007 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (148 pages) |
| Disciplina | 621.38150287 |
| Soggetto topico | Integrated circuits - Testing - Standards |
| ISBN | 0-7381-5721-X |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910141756403321 |
| New York : , : IEEE, , 2007 | ||
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