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.. International Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits
| .. International Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, NJ : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc., , 2013- |
| Disciplina | 621 |
| Soggetto topico |
Electromagnetic compatibility
Integrated circuits |
| Soggetto genere / forma | Conference papers and proceedings. |
| ISSN | 2575-6893 |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Periodico |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
EMC Compo (Workshop)
Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo), Workshop on International Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits proceedings |
| Record Nr. | UNINA-9910626198103321 |
| Piscataway, NJ : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc., , 2013- | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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.. International Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits
| .. International Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, NJ : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc., , 2013- |
| Disciplina | 621 |
| Soggetto topico |
Electromagnetic compatibility
Integrated circuits |
| Soggetto genere / forma | Conference papers and proceedings. |
| ISSN | 2575-6893 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Periodico |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
EMC Compo (Workshop)
Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo), Workshop on International Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits proceedings |
| Record Nr. | UNISA-996581478503316 |
| Piscataway, NJ : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc., , 2013- | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
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1149.6-2015 - IEEE Standard for Boundary-Scan Testing of Advanced Digital Networks - Redline / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| 1149.6-2015 - IEEE Standard for Boundary-Scan Testing of Advanced Digital Networks - Redline / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2016 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (315 pages) |
| Disciplina | 621.38173 |
| Soggetto topico | Integrated circuits |
| ISBN | 1-5044-2079-9 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910440116703321 |
| [Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2016 | ||
| Materiale a stampa | ||
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15th Annual IEEE ASIC Conference and Exhibit
| 15th Annual IEEE ASIC Conference and Exhibit |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : IEEE, 2002 |
| Descrizione fisica | 1 online resource : illustrations |
| Disciplina | 621.3 |
| Soggetto topico | Integrated circuits |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-996211260203316 |
| [Place of publication not identified], : IEEE, 2002 | ||
| Materiale a stampa | ||
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15th Annual IEEE ASIC Conference and Exhibit
| 15th Annual IEEE ASIC Conference and Exhibit |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : IEEE, 2002 |
| Descrizione fisica | 1 online resource : illustrations |
| Disciplina | 621.3 |
| Soggetto topico | Integrated circuits |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910873027403321 |
| [Place of publication not identified], : IEEE, 2002 | ||
| Materiale a stampa | ||
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1995 53rd Annual Device Research Conference Digest
| 1995 53rd Annual Device Research Conference Digest |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : IEEE, 1995 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (150 pages) |
| Disciplina | 621.3815 |
| Soggetto topico | Integrated circuits |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910872789503321 |
| [Place of publication not identified], : IEEE, 1995 | ||
| Materiale a stampa | ||
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1995 IEEE Cornell Conference on Advanced Concepts in High-Speed Semiconductor Devices and Circuits
| 1995 IEEE Cornell Conference on Advanced Concepts in High-Speed Semiconductor Devices and Circuits |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : IEEE, 1995 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (592 pages) |
| Disciplina | 621.3815 |
| Soggetto topico | Integrated circuits |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910872987503321 |
| [Place of publication not identified], : IEEE, 1995 | ||
| Materiale a stampa | ||
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1996 IEEE 54th Annual Device Research Conference
| 1996 IEEE 54th Annual Device Research Conference |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : IEEE, 1996 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (180 pages) |
| Disciplina | 621.3815 |
| Soggetto topico | Integrated circuits |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910872652903321 |
| [Place of publication not identified], : IEEE, 1996 | ||
| Materiale a stampa | ||
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1996 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
| 1996 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : IEEE, 1996 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (338 pages) |
| Disciplina | 621.3815 |
| Soggetto topico |
Integrated circuits
Microelectronics |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-996204464603316 |
| [Place of publication not identified], : IEEE, 1996 | ||
| Materiale a stampa | ||
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1996 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
| 1996 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : IEEE, 1996 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (338 pages) |
| Disciplina | 621.3815 |
| Soggetto topico |
Integrated circuits
Microelectronics |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910872788803321 |
| [Place of publication not identified], : IEEE, 1996 | ||
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