.. International Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits |
Pubbl/distr/stampa | Piscataway, NJ : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc., , 2013- |
Disciplina | 621 |
Soggetto topico |
Electromagnetic compatibility
Integrated circuits |
Soggetto genere / forma | Conference papers and proceedings. |
ISSN | 2575-6893 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Periodico |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
EMC Compo (Workshop)
Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo), Workshop on International Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits proceedings |
Record Nr. | UNINA-9910626198103321 |
Piscataway, NJ : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc., , 2013- | ||
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.. International Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits |
Pubbl/distr/stampa | Piscataway, NJ : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc., , 2013- |
Disciplina | 621 |
Soggetto topico |
Electromagnetic compatibility
Integrated circuits |
Soggetto genere / forma | Conference papers and proceedings. |
ISSN | 2575-6893 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Periodico |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
EMC Compo (Workshop)
Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo), Workshop on International Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits proceedings |
Record Nr. | UNISA-996581478503316 |
Piscataway, NJ : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc., , 2013- | ||
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1149.6-2015 - IEEE Standard for Boundary-Scan Testing of Advanced Digital Networks - Redline / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2016 |
Descrizione fisica | 1 online resource (315 pages) |
Disciplina | 621.38173 |
Soggetto topico | Integrated circuits |
ISBN | 1-5044-2079-9 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNINA-9910440116703321 |
[Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2016 | ||
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15th Annual IEEE ASIC Conference and Exhibit |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : IEEE, 2002 |
Descrizione fisica | 1 online resource : illustrations |
Disciplina | 621.3 |
Soggetto topico | Integrated circuits |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISA-996211260203316 |
[Place of publication not identified], : IEEE, 2002 | ||
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15th Annual IEEE ASIC Conference and Exhibit |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : IEEE, 2002 |
Descrizione fisica | 1 online resource : illustrations |
Disciplina | 621.3 |
Soggetto topico | Integrated circuits |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNINA-9910873027403321 |
[Place of publication not identified], : IEEE, 2002 | ||
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1996 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : IEEE, 1996 |
Descrizione fisica | 1 online resource (338 pages) |
Disciplina | 621.3815 |
Soggetto topico |
Integrated circuits
Microelectronics |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISA-996204464603316 |
[Place of publication not identified], : IEEE, 1996 | ||
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1996 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : IEEE, 1996 |
Descrizione fisica | 1 online resource (338 pages) |
Disciplina | 621.3815 |
Soggetto topico |
Integrated circuits
Microelectronics |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNINA-9910872788803321 |
[Place of publication not identified], : IEEE, 1996 | ||
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1996 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : IEEE, 1997 |
Descrizione fisica | 1 online resource (175 pages) |
Disciplina | 621.3815 |
Soggetto topico | Integrated circuits |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISA-996203699403316 |
[Place of publication not identified], : IEEE, 1997 | ||
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1996 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : IEEE, 1997 |
Descrizione fisica | 1 online resource (175 pages) |
Disciplina | 621.3815 |
Soggetto topico | Integrated circuits |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNINA-9910872682503321 |
[Place of publication not identified], : IEEE, 1997 | ||
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1998 International Symposium on Power Semiconductor Devices and IC's |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : IEEE, 1998 |
Descrizione fisica | 1 online resource (500 pages) |
Disciplina | 621.3815 |
Soggetto topico | Integrated circuits |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Nota di contenuto | Materials and Processes; CAD/Simulation; Devices; High Voltage/Power ICs; Modules and Packaging; Applications and Measurements. |
Record Nr. | UNISA-996199314903316 |
[Place of publication not identified], : IEEE, 1998 | ||
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