An atlas of high resolution spectra of rare earth elements for inductively coupled plasma atomic emission spectroscopy [[electronic resource] /] / Benli Huang ... [et al.] |
Autore | Huang Benli |
Pubbl/distr/stampa | Cambridge, : RSC, 2000 |
Descrizione fisica | 1 online resource (260 p.) |
Disciplina | 546.416 |
Soggetto topico |
Rare earth metals - Spectra
Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry |
Soggetto genere / forma | Electronic books. |
ISBN | 1-84755-012-6 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Nota di contenuto | BK9780854044771-FX001; BK9780854044771-FP001; BK9780854044771-FP005; BK9780854044771-FP007; BK9780854044771-00001; BK9780854044771-00009; BK9780854044771-00011; BK9780854044771-00117; BK9780854044771-00248 |
Record Nr. | UNINA-9910455231403321 |
Huang Benli
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Cambridge, : RSC, 2000 | ||
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An atlas of high resolution spectra of rare earth elements for inductively coupled plasma atomic emission spectroscopy [[electronic resource] /] / Benli Huang ... [et al.] |
Autore | Huang Benli |
Pubbl/distr/stampa | Cambridge, : RSC, 2000 |
Descrizione fisica | 1 online resource (260 p.) |
Disciplina | 546.416 |
Soggetto topico |
Rare earth metals - Spectra
Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry |
ISBN | 1-84755-012-6 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Nota di contenuto | BK9780854044771-FX001; BK9780854044771-FP001; BK9780854044771-FP005; BK9780854044771-FP007; BK9780854044771-00001; BK9780854044771-00009; BK9780854044771-00011; BK9780854044771-00117; BK9780854044771-00248 |
Record Nr. | UNINA-9910778307603321 |
Huang Benli
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Cambridge, : RSC, 2000 | ||
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An atlas of high resolution spectra of rare earth elements for inductively coupled plasma atomic emission spectroscopy / / Benli Huang ... [et al.] |
Autore | Huang Benli |
Edizione | [1st ed.] |
Pubbl/distr/stampa | Cambridge, : RSC, 2000 |
Descrizione fisica | 1 online resource (260 p.) |
Disciplina | 546.416 |
Soggetto topico |
Rare earth metals - Spectra
Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry |
ISBN | 1-84755-012-6 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Nota di contenuto | BK9780854044771-FX001; BK9780854044771-FP001; BK9780854044771-FP005; BK9780854044771-FP007; BK9780854044771-00001; BK9780854044771-00009; BK9780854044771-00011; BK9780854044771-00117; BK9780854044771-00248 |
Record Nr. | UNINA-9910817305003321 |
Huang Benli
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Cambridge, : RSC, 2000 | ||
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Fehlerfrei durch die ICP Emissionsspektrometrie / / Joachim Nolte |
Autore | Nolte Joachim |
Edizione | [1. Aufl.] |
Pubbl/distr/stampa | Weinheim, : Wiley-VCH, 2012 |
Descrizione fisica | 1 online resource (212 p.) |
Disciplina | 543.52 |
Soggetto topico | Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry |
ISBN |
3-527-64780-5
3-527-64781-3 3-527-64778-3 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | ger |
Nota di contenuto | 3.2 Kalibrierfunktion3.3 Die Messwerte sind falsch; 3.4 Die Messwerte schwanken (schlechte Präzision oder Drift); 3.5 Merkwürdige Peaks; 3.6 Hardware; 3.7 Gefahr im Verzug; 3.8 Bekannte Problemfälle; 4 Stichwortverzeichnis |
Record Nr. | UNINA-9910877778403321 |
Nolte Joachim
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Weinheim, : Wiley-VCH, 2012 | ||
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Fehlerfrei durch die ICP Emissionsspektrometrie [[electronic resource] /] / Joachim Nölte |
Autore | Nölte Joachim |
Edizione | [1. Aufl.] |
Pubbl/distr/stampa | Weinheim, : Wiley-VCH, 2012 |
Descrizione fisica | 1 online resource (212 p.) |
Disciplina | 543.52 |
Soggetto topico | Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry |
Soggetto genere / forma | Electronic books. |
ISBN |
3-527-64780-5
3-527-64781-3 3-527-64778-3 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | ger |
Nota di contenuto | 3.2 Kalibrierfunktion3.3 Die Messwerte sind falsch; 3.4 Die Messwerte schwanken (schlechte Präzision oder Drift); 3.5 Merkwürdige Peaks; 3.6 Hardware; 3.7 Gefahr im Verzug; 3.8 Bekannte Problemfälle; 4 Stichwortverzeichnis |
Record Nr. | UNINA-9910133836903321 |
Nölte Joachim
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Weinheim, : Wiley-VCH, 2012 | ||
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Fehlerfrei durch die ICP Emissionsspektrometrie [[electronic resource] /] / Joachim Nölte |
Autore | Nölte Joachim |
Edizione | [1. Aufl.] |
Pubbl/distr/stampa | Weinheim, : Wiley-VCH, 2012 |
Descrizione fisica | 1 online resource (212 p.) |
Disciplina | 543.52 |
Soggetto topico | Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry |
ISBN |
3-527-64780-5
3-527-64781-3 3-527-64778-3 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | ger |
Nota di contenuto | 3.2 Kalibrierfunktion3.3 Die Messwerte sind falsch; 3.4 Die Messwerte schwanken (schlechte Präzision oder Drift); 3.5 Merkwürdige Peaks; 3.6 Hardware; 3.7 Gefahr im Verzug; 3.8 Bekannte Problemfälle; 4 Stichwortverzeichnis |
Record Nr. | UNINA-9910830931003321 |
Nölte Joachim
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Weinheim, : Wiley-VCH, 2012 | ||
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ICP emission spectrometry : a practical guide / / Joachim Nölte |
Autore | Nölte Joachim |
Edizione | [Second edition.] |
Pubbl/distr/stampa | Weinheim, Germany : , : Wiley-VCH, , [2021] |
Descrizione fisica | 1 online resource (291 pages) |
Disciplina | 543.6 |
Soggetto topico | Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry |
Soggetto genere / forma | Electronic books. |
ISBN |
3-527-82364-6
3-527-82362-X |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNINA-9910555265403321 |
Nölte Joachim
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Weinheim, Germany : , : Wiley-VCH, , [2021] | ||
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ICP emission spectrometry : a practical guide / / Joachim Nölte |
Autore | Nölte Joachim |
Edizione | [Second edition.] |
Pubbl/distr/stampa | Weinheim, Germany : , : Wiley-VCH, , [2021] |
Descrizione fisica | 1 online resource (291 pages) |
Disciplina | 543.6 |
Soggetto topico | Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry |
ISBN |
3-527-82364-6
3-527-82362-X |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNINA-9910830009903321 |
Nölte Joachim
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Weinheim, Germany : , : Wiley-VCH, , [2021] | ||
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ICP Emissionsspektrometrie Für Praktiker : Grundlagen, Methodenentwicklung, Anwendungsbeispiele |
Autore | Nölte Joachim |
Edizione | [2nd ed.] |
Pubbl/distr/stampa | Newark : , : John Wiley & Sons, Incorporated, , 2020 |
Descrizione fisica | 1 online resource (287 pages) |
Disciplina | 543.6 |
Soggetto topico | Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry |
ISBN | 3-527-82365-4 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | ger |
Nota di contenuto |
Cover -- Titelseite -- Impressum -- Inhaltsverzeichnis -- Vorwort zur 2. Auflage -- Vorwort zur 1. Auflage -- Verzeichnis der Abkürzungen -- 1 Ein Überblick -- 1.1 Analytische Merkmale der ICP OES -- 1.2 ICP OES - nomen est omen -- 1.3 Verbreitung der ICP OES -- 1.4 Weitere Techniken zur Elementanalytik -- 1.5 Begriffe -- 2 Plasma -- 2.1 Das analytisch genutzte Plasma -- 2.1.1 Betriebsgas -- 2.1.2 Plasmafackel -- 2.1.3 Zünden des Plasmas -- 2.1.4 Orientierung des Plasmas bzw. der Fackel -- 2.2 Anregung zur Emission von elektromagnetischer Strahlung -- 2.2.1 Emissionslinien -- 2.2.2 Energie und Temperatur -- 2.2.3 Spektroskopische Eigenschaften des ICP -- 2.2.4 Plasmabeobachtung -- 2.3 Anregungseinheit -- 2.3.1 Hochfrequenzgenerator -- 2.3.2 Induktionsspule -- 2.4 Probeneinführungssystem -- 2.4.1 Zerstäuber -- 2.4.2 Zerstäuberkammer -- 2.4.3 Pumpe -- 2.4.4 Sonstige Formen des Probeneintrags -- 3 Optik und Detektor des Spektrometers -- 3.1 Optische Grundlagen -- 3.1.1 Auflösung -- 3.1.2 Relevante Grundbegriffe der Optik -- 3.1.3 Optische Aufbauten -- 3.1.4 Lichttransfer vom Plasma zur Optik -- 3.2 Detektor -- 3.2.1 Photomultiplier-Tube (PMT) -- 3.2.2 Halbleiterdetektoren -- 3.3 Apparativer Aufbau eines Emissionsspektrometers -- 3.3.1 Klassische Spektrometer -- 3.3.2 Array-Spektrometer -- 4 Methodenentwicklung -- 4.1 Wellenlängenauswahl -- 4.1.1 Arbeitsbereich -- 4.1.2 Spektrale Störfreiheit -- 4.2 Auswerte- und Korrekturtechniken -- 4.2.1 Signalauswertung -- 4.2.2 Untergrundkorrektur -- 4.2.3 Einfluss der Peakauswertung und Untergrundkorrektur auf die Nachweisgrenzen -- 4.2.4 Korrektur spektraler Störungen -- 4.3 Nicht-spektrale Störungen -- 4.3.1 Korrektur nicht-spektraler Störungen -- 4.4 Optimierung -- 4.4.1 Optimierungsziele -- 4.4.2 Optimierungsparameter -- 4.4.3 Optimierungsalgorithmen -- 4.5 Validierung -- 4.5.1 Richtigkeit und Spezifität.
4.5.2 Wiederholbarkeit -- 4.5.3 Nachweisgrenze -- 4.5.4 Arbeitsbereich -- 4.5.5 Robustheit -- 5 Routineanalyse -- 5.1 Vorbereitung -- 5.1.1 Probenvorbereitung -- 5.1.2 Einbrennzeit -- 5.1.3 Spülzeiten -- 5.2 Kalibrieren -- 5.2.1 Bezugslösungen -- 5.2.2 Kalibrierfunktionen -- 5.2.3 Bewerten der Kalibrierung -- 5.3 Analytische Qualitätssicherung -- 5.4 Software und Datenbearbeitung -- 6 Fehler: Ursachen finden und vermeiden -- 7 Anwendungen -- 7.1 Allgemeine Hinweise -- 7.1.1 Gefäßmaterial -- 7.1.2 Stabilität von Lösungen -- 7.1.3 Matrixeffekte -- 7.1.4 Kontaminationen -- 7.2 Hinweise zu einzelnen Elementen -- 7.3 Ausgewählte Anwendungen -- 7.3.1 Umwelt -- 7.3.2 Proben biologischen Ursprungs -- 7.3.3 Geologisches Material -- 7.3.4 Metallurgie -- 7.3.5 Materialwissenschaften -- 7.3.6 Industrielle Anwendungen -- 7.3.7 Organische Lösungsmittel -- 8 Beschaffung und Laborvorbereitung -- 8.1 Welche atomspektrometrische Technik ist geeignet? -- 8.2 Welches ICP Emissionsspektrometer ist geeignet? -- 8.3 Vorbereitung des Labors -- Literatur -- Stichwortverzeichnis -- EULA. |
Record Nr. | UNINA-9910830914203321 |
Nölte Joachim
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Newark : , : John Wiley & Sons, Incorporated, , 2020 | ||
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ICP Emissionsspektrometrie Für Praktiker : Grundlagen, Methodenentwicklung, Anwendungsbeispiele |
Autore | Nölte Joachim |
Edizione | [2nd ed.] |
Pubbl/distr/stampa | Newark : , : John Wiley & Sons, Incorporated, , 2020 |
Descrizione fisica | 1 online resource (287 pages) |
Disciplina | 543.6 |
Soggetto topico | Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry |
ISBN | 3-527-82365-4 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | ger |
Nota di contenuto |
Cover -- Titelseite -- Impressum -- Inhaltsverzeichnis -- Vorwort zur 2. Auflage -- Vorwort zur 1. Auflage -- Verzeichnis der Abkürzungen -- 1 Ein Überblick -- 1.1 Analytische Merkmale der ICP OES -- 1.2 ICP OES - nomen est omen -- 1.3 Verbreitung der ICP OES -- 1.4 Weitere Techniken zur Elementanalytik -- 1.5 Begriffe -- 2 Plasma -- 2.1 Das analytisch genutzte Plasma -- 2.1.1 Betriebsgas -- 2.1.2 Plasmafackel -- 2.1.3 Zünden des Plasmas -- 2.1.4 Orientierung des Plasmas bzw. der Fackel -- 2.2 Anregung zur Emission von elektromagnetischer Strahlung -- 2.2.1 Emissionslinien -- 2.2.2 Energie und Temperatur -- 2.2.3 Spektroskopische Eigenschaften des ICP -- 2.2.4 Plasmabeobachtung -- 2.3 Anregungseinheit -- 2.3.1 Hochfrequenzgenerator -- 2.3.2 Induktionsspule -- 2.4 Probeneinführungssystem -- 2.4.1 Zerstäuber -- 2.4.2 Zerstäuberkammer -- 2.4.3 Pumpe -- 2.4.4 Sonstige Formen des Probeneintrags -- 3 Optik und Detektor des Spektrometers -- 3.1 Optische Grundlagen -- 3.1.1 Auflösung -- 3.1.2 Relevante Grundbegriffe der Optik -- 3.1.3 Optische Aufbauten -- 3.1.4 Lichttransfer vom Plasma zur Optik -- 3.2 Detektor -- 3.2.1 Photomultiplier-Tube (PMT) -- 3.2.2 Halbleiterdetektoren -- 3.3 Apparativer Aufbau eines Emissionsspektrometers -- 3.3.1 Klassische Spektrometer -- 3.3.2 Array-Spektrometer -- 4 Methodenentwicklung -- 4.1 Wellenlängenauswahl -- 4.1.1 Arbeitsbereich -- 4.1.2 Spektrale Störfreiheit -- 4.2 Auswerte- und Korrekturtechniken -- 4.2.1 Signalauswertung -- 4.2.2 Untergrundkorrektur -- 4.2.3 Einfluss der Peakauswertung und Untergrundkorrektur auf die Nachweisgrenzen -- 4.2.4 Korrektur spektraler Störungen -- 4.3 Nicht-spektrale Störungen -- 4.3.1 Korrektur nicht-spektraler Störungen -- 4.4 Optimierung -- 4.4.1 Optimierungsziele -- 4.4.2 Optimierungsparameter -- 4.4.3 Optimierungsalgorithmen -- 4.5 Validierung -- 4.5.1 Richtigkeit und Spezifität.
4.5.2 Wiederholbarkeit -- 4.5.3 Nachweisgrenze -- 4.5.4 Arbeitsbereich -- 4.5.5 Robustheit -- 5 Routineanalyse -- 5.1 Vorbereitung -- 5.1.1 Probenvorbereitung -- 5.1.2 Einbrennzeit -- 5.1.3 Spülzeiten -- 5.2 Kalibrieren -- 5.2.1 Bezugslösungen -- 5.2.2 Kalibrierfunktionen -- 5.2.3 Bewerten der Kalibrierung -- 5.3 Analytische Qualitätssicherung -- 5.4 Software und Datenbearbeitung -- 6 Fehler: Ursachen finden und vermeiden -- 7 Anwendungen -- 7.1 Allgemeine Hinweise -- 7.1.1 Gefäßmaterial -- 7.1.2 Stabilität von Lösungen -- 7.1.3 Matrixeffekte -- 7.1.4 Kontaminationen -- 7.2 Hinweise zu einzelnen Elementen -- 7.3 Ausgewählte Anwendungen -- 7.3.1 Umwelt -- 7.3.2 Proben biologischen Ursprungs -- 7.3.3 Geologisches Material -- 7.3.4 Metallurgie -- 7.3.5 Materialwissenschaften -- 7.3.6 Industrielle Anwendungen -- 7.3.7 Organische Lösungsmittel -- 8 Beschaffung und Laborvorbereitung -- 8.1 Welche atomspektrometrische Technik ist geeignet? -- 8.2 Welches ICP Emissionsspektrometer ist geeignet? -- 8.3 Vorbereitung des Labors -- Literatur -- Stichwortverzeichnis -- EULA. |
Record Nr. | UNINA-9910877744103321 |
Nölte Joachim
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Newark : , : John Wiley & Sons, Incorporated, , 2020 | ||
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