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Basic equations for the modeling of gallium nitride (GaN) high electron mobility transistors (HEMTs) / / Jon C. Freeman
Basic equations for the modeling of gallium nitride (GaN) high electron mobility transistors (HEMTs) / / Jon C. Freeman
Autore Freeman Jon C.
Pubbl/distr/stampa Cleveland, Ohio : , : National Aeronautics and Space Administration, Glenn Research Center, , February 2003
Descrizione fisica 1 online resource (65 pages) : illustrations
Collana NASA/TM
Soggetto topico Gallium nitrides
Field effect transistors
High electron mobility transistors
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti Basic equations for the modeling of gallium nitride
Record Nr. UNINA-9910705626303321
Freeman Jon C.  
Cleveland, Ohio : , : National Aeronautics and Space Administration, Glenn Research Center, , February 2003
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Cryogenic parametric characterization of gallium nitride switches / / Marcelo C. Gonzalez, Lee W. Kohlman, and Andrew J. Trunek
Cryogenic parametric characterization of gallium nitride switches / / Marcelo C. Gonzalez, Lee W. Kohlman, and Andrew J. Trunek
Autore Gonzalez Marcelo C.
Pubbl/distr/stampa Cleveland, Ohio : , : National Aeronautics and Space Administration, Glenn Research Center, , October 2018
Descrizione fisica 1 online resource (iii, 26 pages) : color illustrations
Collana NASA/TP
Soggetto topico Field effect transistors
Gallium nitrides
Metal oxide semiconductors
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910711565803321
Gonzalez Marcelo C.  
Cleveland, Ohio : , : National Aeronautics and Space Administration, Glenn Research Center, , October 2018
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui