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Evaluation of an electronic load for pulsed current characterization of power semiconductors [[electronic resource] /] / Timothy E. Griffin
Evaluation of an electronic load for pulsed current characterization of power semiconductors [[electronic resource] /] / Timothy E. Griffin
Autore Griffin Timothy E
Pubbl/distr/stampa Adelphi, MD : , : Army Research Laboratory, , [2010]
Descrizione fisica 1 online resource (iv, 10 pages) : illustrations (some color)
Collana ARL-TR
Soggetto topico Power semiconductors - Evaluation
Field-effect transistors - Testing
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910699910203321
Griffin Timothy E  
Adelphi, MD : , : Army Research Laboratory, , [2010]
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
RF and microwave modeling and measurement techniques for field effect transistors / / Jianjun Gao
RF and microwave modeling and measurement techniques for field effect transistors / / Jianjun Gao
Autore Gao Jianjun <1968->
Pubbl/distr/stampa Raleigh, NC, : SciTech Pub., c2010
Descrizione fisica 1 online resource (351 p.)
Disciplina 621.3815/284
Soggetto topico Field-effect transistors - Testing
Compound semiconductors - Testing
Field-effect transistors - Mathematical models
Compound semiconductors - Mathematical models
Microwave measurements
Radio measurements
ISBN 1-61353-090-0
1-61344-286-6
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Nota di contenuto Contents; Preface; Chapter 1 - Introduction; Chapter 2 - Representation of Microwave Two-Port Network; Chapter 3 - Microwave and RF Measurement Techniques; Chapter 4 - FET Small Signal Modeling and ParameterExtraction; Chapter 5 - FET Nonlinear Modeling and ParameterExtraction; Chapter 6 - Microwave Noise Modeling and ParameterExtraction Technique for FETs; Chapter 7 - Artificial Neural Network Modeling Techniquefor FET; References; Index
Record Nr. UNINA-9911006694703321
Gao Jianjun <1968->  
Raleigh, NC, : SciTech Pub., c2010
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui