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2013 22nd Asian Test Symposium : (ATS 2013) : Yilan, Taiwan, 18-21 November 2013 / / Asian Test Symposium (22nd : 2013 : I-lan hsien, Taiwan)
2013 22nd Asian Test Symposium : (ATS 2013) : Yilan, Taiwan, 18-21 November 2013 / / Asian Test Symposium (22nd : 2013 : I-lan hsien, Taiwan)
Pubbl/distr/stampa Piscataway, NJ, : , : IEEE, , 2013
Descrizione fisica 1 online resource (309 pages) : illustrations
Disciplina 621.3815
Soggetto topico Electronic circuits - Testing
Electronic digital computers Circuits - Testing
Fault-tolerant computing
ISBN 0-7695-5080-0
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti Test Symposium
Record Nr. UNISA-996280213103316
Piscataway, NJ, : , : IEEE, , 2013
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui
2013 22nd Asian Test Symposium : (ATS 2013) : Yilan, Taiwan, 18-21 November 2013 / / Asian Test Symposium (22nd : 2013 : I-lan hsien, Taiwan)
2013 22nd Asian Test Symposium : (ATS 2013) : Yilan, Taiwan, 18-21 November 2013 / / Asian Test Symposium (22nd : 2013 : I-lan hsien, Taiwan)
Pubbl/distr/stampa Piscataway, NJ, : , : IEEE, , 2013
Descrizione fisica 1 online resource (309 pages) : illustrations
Disciplina 621.3815
Soggetto topico Electronic circuits - Testing
Electronic digital computers Circuits - Testing
Fault-tolerant computing
ISBN 0-7695-5080-0
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti Test Symposium
Record Nr. UNINA-9910132357903321
Piscataway, NJ, : , : IEEE, , 2013
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui