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2013 22nd Asian Test Symposium : (ATS 2013) : Yilan, Taiwan, 18-21 November 2013 / / Asian Test Symposium (22nd : 2013 : I-lan hsien, Taiwan)
| 2013 22nd Asian Test Symposium : (ATS 2013) : Yilan, Taiwan, 18-21 November 2013 / / Asian Test Symposium (22nd : 2013 : I-lan hsien, Taiwan) |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, NJ, : , : IEEE, , 2013 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (309 pages) : illustrations |
| Disciplina | 621.3815 |
| Soggetto topico |
Electronic circuits - Testing
Electronic digital computers Circuits - Testing Fault-tolerant computing |
| ISBN | 0-7695-5080-0 |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | Test Symposium |
| Record Nr. | UNISA-996280213103316 |
| Piscataway, NJ, : , : IEEE, , 2013 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
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2013 22nd Asian Test Symposium : (ATS 2013) : Yilan, Taiwan, 18-21 November 2013 / / Asian Test Symposium (22nd : 2013 : I-lan hsien, Taiwan)
| 2013 22nd Asian Test Symposium : (ATS 2013) : Yilan, Taiwan, 18-21 November 2013 / / Asian Test Symposium (22nd : 2013 : I-lan hsien, Taiwan) |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, NJ, : , : IEEE, , 2013 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (309 pages) : illustrations |
| Disciplina | 621.3815 |
| Soggetto topico |
Electronic circuits - Testing
Electronic digital computers Circuits - Testing Fault-tolerant computing |
| ISBN | 0-7695-5080-0 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | Test Symposium |
| Record Nr. | UNINA-9910132357903321 |
| Piscataway, NJ, : , : IEEE, , 2013 | ||
| Materiale a stampa | ||
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