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.. East-West Design and Test Symposium
| .. East-West Design and Test Symposium |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, NJ : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc |
| Disciplina | 621.38195 |
| Soggetto topico |
Computer engineering
Electronic circuit design Electronic circuits - Testing Electronic digital computers - Circuits - Testing Integrated circuits - Testing |
| Soggetto genere / forma |
Periodicals.
Conference papers and proceedings. |
| ISSN | 2472-761X |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Periodico |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
EWDTS ..
Proceedings Proceedings of IEEE East-West Disign & Test Symposium Proceedings of IEEE East-West Disign and Test Symposium IEEE East-West Design & Test International Symposium |
| Record Nr. | UNISA-996581539603316 |
| Piscataway, NJ : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc | ||
| Materiale a stampa | ||
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.. East-West Design and Test Symposium
| .. East-West Design and Test Symposium |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, NJ : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc |
| Disciplina | 621.38195 |
| Soggetto topico |
Computer engineering
Electronic circuit design Electronic circuits - Testing Electronic digital computers - Circuits - Testing Integrated circuits - Testing |
| Soggetto genere / forma |
Periodicals.
Conference papers and proceedings. |
| ISSN | 2472-761X |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Periodico |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
EWDTS ..
Proceedings Proceedings of IEEE East-West Disign & Test Symposium Proceedings of IEEE East-West Disign and Test Symposium IEEE East-West Design & Test International Symposium |
| Record Nr. | UNINA-9910626115703321 |
| Piscataway, NJ : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc | ||
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2006 IEEE International Test Conference : Santa Clara, CA : 22-27 October 2006
| 2006 IEEE International Test Conference : Santa Clara, CA : 22-27 October 2006 |
| Pubbl/distr/stampa | IEEE |
| Disciplina | 621.3815/48 |
| Soggetto topico |
Integrated circuits - Testing
Electronic digital computers - Circuits - Testing Telecommunication Radio frequency |
| ISBN | 1-5090-9088-6 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
Autonomic Computing
2006 IEEE International Test Conference |
| Record Nr. | UNISA-996281106603316 |
| IEEE | ||
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2006 IEEE International Test Conference : Santa Clara, CA : 22-27 October 2006
| 2006 IEEE International Test Conference : Santa Clara, CA : 22-27 October 2006 |
| Pubbl/distr/stampa | IEEE |
| Disciplina | 621.3815/48 |
| Soggetto topico |
Integrated circuits - Testing
Electronic digital computers - Circuits - Testing Telecommunication Radio frequency |
| ISBN |
9781509090884
1509090886 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
Autonomic Computing
2006 IEEE International Test Conference |
| Record Nr. | UNINA-9910142706203321 |
| IEEE | ||
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2008 17th Asian Test Symposium : 24-27 November 2008
| 2008 17th Asian Test Symposium : 24-27 November 2008 |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2008 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (456 pages) |
| Soggetto topico |
Fault-tolerant computing
Electronic circuits - Testing Electronic digital computers - Circuits - Testing |
| ISBN | 1-5090-8449-5 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-996198309403316 |
| New York : , : IEEE, , 2008 | ||
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2008 17th Asian Test Symposium : 24-27 November 2008
| 2008 17th Asian Test Symposium : 24-27 November 2008 |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2008 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (456 pages) |
| Soggetto topico |
Fault-tolerant computing
Electronic circuits - Testing Electronic digital computers - Circuits - Testing |
| ISBN | 1-5090-8449-5 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910139855303321 |
| New York : , : IEEE, , 2008 | ||
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2014 19th IEEE European Test Symposium : 26-30 May 2014, Paderborn, Germany / / IEEE Computer Society
| 2014 19th IEEE European Test Symposium : 26-30 May 2014, Paderborn, Germany / / IEEE Computer Society |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2014 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (68 pages) |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico |
Integrated circuits - Testing
Automatic test equipment Electronic digital computers - Circuits - Testing |
| ISBN | 1-4799-3415-1 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910134811503321 |
| Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2014 | ||
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2014 19th IEEE European Test Symposium : 26-30 May 2014, Paderborn, Germany / / IEEE Computer Society
| 2014 19th IEEE European Test Symposium : 26-30 May 2014, Paderborn, Germany / / IEEE Computer Society |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2014 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (68 pages) |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico |
Integrated circuits - Testing
Automatic test equipment Electronic digital computers - Circuits - Testing |
| ISBN | 1-4799-3415-1 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-996280213803316 |
| Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2014 | ||
| Materiale a stampa | ||
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2015 20th IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2015 : May 25th-29th 2015, Cluj-Napoca, Romania / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| 2015 20th IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2015 : May 25th-29th 2015, Cluj-Napoca, Romania / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, New Jersey : , : IEEE, , 2015 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (211 pages) : illustrations |
| Disciplina | 620.0044 |
| Soggetto topico |
Automatic test equipment
Electronic digital computers - Circuits - Testing Integrated circuits - Testing |
| ISBN | 1-4799-7603-2 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
2015 20th IEEE European Test Symposium
Test Symposium |
| Record Nr. | UNINA-9910134756903321 |
| Piscataway, New Jersey : , : IEEE, , 2015 | ||
| Materiale a stampa | ||
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2015 20th IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2015 : May 25th-29th 2015, Cluj-Napoca, Romania / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| 2015 20th IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2015 : May 25th-29th 2015, Cluj-Napoca, Romania / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, New Jersey : , : IEEE, , 2015 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (211 pages) : illustrations |
| Disciplina | 620.0044 |
| Soggetto topico |
Automatic test equipment
Electronic digital computers - Circuits - Testing Integrated circuits - Testing |
| ISBN | 1-4799-7603-2 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
2015 20th IEEE European Test Symposium
Test Symposium |
| Record Nr. | UNISA-996280213703316 |
| Piscataway, New Jersey : , : IEEE, , 2015 | ||
| Materiale a stampa | ||
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