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.. East-West Design and Test Symposium
.. East-West Design and Test Symposium
Pubbl/distr/stampa Piscataway, NJ : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc
Disciplina 621.38195
Soggetto topico Computer engineering
Electronic circuit design
Electronic circuits - Testing
Electronic digital computers - Circuits - Testing
Integrated circuits - Testing
Soggetto genere / forma Periodicals.
Conference papers and proceedings.
ISSN 2472-761X
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Periodico
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti EWDTS ..
Proceedings
Proceedings of IEEE East-West Disign & Test Symposium
Proceedings of IEEE East-West Disign and Test Symposium
IEEE East-West Design & Test International Symposium
Record Nr. UNISA-996581539603316
Piscataway, NJ : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc
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.. East-West Design and Test Symposium
.. East-West Design and Test Symposium
Pubbl/distr/stampa Piscataway, NJ : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc
Disciplina 621.38195
Soggetto topico Computer engineering
Electronic circuit design
Electronic circuits - Testing
Electronic digital computers - Circuits - Testing
Integrated circuits - Testing
Soggetto genere / forma Periodicals.
Conference papers and proceedings.
ISSN 2472-761X
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Periodico
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti EWDTS ..
Proceedings
Proceedings of IEEE East-West Disign & Test Symposium
Proceedings of IEEE East-West Disign and Test Symposium
IEEE East-West Design & Test International Symposium
Record Nr. UNINA-9910626115703321
Piscataway, NJ : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc
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10th anniversary compendium of papers from Asian Test Symposium : proceedings : 1992-2001
10th anniversary compendium of papers from Asian Test Symposium : proceedings : 1992-2001
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : IEEE Computer Society, 2001
Disciplina 621.3815/48
Soggetto topico Electronic digital computers - Testing - Circuits
Electronic circuits - Testing
Fault-tolerant computing
Electrical & Computer Engineering
Engineering & Applied Sciences
Electrical Engineering
ISBN 0-7695-1233-X
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti ATS 2001 compendium
Record Nr. UNISA-996217253003316
[Place of publication not identified], : IEEE Computer Society, 2001
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2004 IEEE International High-Level Design Validation and Test Workshop
2004 IEEE International High-Level Design Validation and Test Workshop
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : I E E E, 2004
Descrizione fisica 1 online resource
Disciplina 005.14
Soggetto topico Computer software - Verification
Electronic circuits - Testing
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Nota di contenuto HLDVT'04 - Ninth Annual IEEE International Workshop on High Level Design Validation and Test -- Proceedings. Ninth IEEE International High-Level Design Validation and Test Workshop (IEEE Cat. No.04EX940) -- Copyright -- Chairs' welcome message -- Committees -- Table of contents -- TTTC: test technology technical council -- Session 1: formal techniques -- Enhancing sequential depth computation with a branch-and-bound algorithm -- Reference model based RTL verification: an integrated approach -- Dynamic guiding of bounded property checking -- Towards an efficient assertion based verification of SystemC designs.
Record Nr. UNINA-9910872487603321
[Place of publication not identified], : I E E E, 2004
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2006 15th Asian Test Symposium / / IEEE Computer Society
2006 15th Asian Test Symposium / / IEEE Computer Society
Pubbl/distr/stampa Los Alamitos, California : , : IEEE, , 2006
Descrizione fisica 1 online resource (xxiii, 451 pages) : illustrations
Disciplina 621.381548015192
Soggetto topico Electronic circuits - Testing
ISBN 1-5090-9801-1
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti 15th Asian Test Symposium
Record Nr. UNISA-996198862003316
Los Alamitos, California : , : IEEE, , 2006
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2006 15th Asian Test Symposium / / IEEE Computer Society
2006 15th Asian Test Symposium / / IEEE Computer Society
Pubbl/distr/stampa Los Alamitos, California : , : IEEE, , 2006
Descrizione fisica 1 online resource (xxiii, 451 pages) : illustrations
Disciplina 621.381548015192
Soggetto topico Electronic circuits - Testing
ISBN 1-5090-9801-1
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti 15th Asian Test Symposium
Record Nr. UNINA-9910142739503321
Los Alamitos, California : , : IEEE, , 2006
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2008 14th IEEE International On-Line Testing Symposium : 7-9 July 2008
2008 14th IEEE International On-Line Testing Symposium : 7-9 July 2008
Pubbl/distr/stampa New York : , : IEEE, , 2008
Descrizione fisica 1 online resource (306 pages)
Soggetto topico Electronic circuits - Testing
Online data processing
Electronic circuit design
ISBN 1-5090-7765-0
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Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996216495703316
New York : , : IEEE, , 2008
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2008 14th IEEE International On-Line Testing Symposium : 7-9 July 2008
2008 14th IEEE International On-Line Testing Symposium : 7-9 July 2008
Pubbl/distr/stampa New York : , : IEEE, , 2008
Descrizione fisica 1 online resource (306 pages)
Soggetto topico Electronic circuits - Testing
Online data processing
Electronic circuit design
ISBN 1-5090-7765-0
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910145679203321
New York : , : IEEE, , 2008
Materiale a stampa
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2008 17th Asian Test Symposium : 24-27 November 2008
2008 17th Asian Test Symposium : 24-27 November 2008
Pubbl/distr/stampa New York : , : IEEE, , 2008
Descrizione fisica 1 online resource (456 pages)
Soggetto topico Fault-tolerant computing
Electronic circuits - Testing
Electronic digital computers - Circuits - Testing
ISBN 1-5090-8449-5
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996198309403316
New York : , : IEEE, , 2008
Materiale a stampa
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2008 17th Asian Test Symposium : 24-27 November 2008
2008 17th Asian Test Symposium : 24-27 November 2008
Pubbl/distr/stampa New York : , : IEEE, , 2008
Descrizione fisica 1 online resource (456 pages)
Soggetto topico Fault-tolerant computing
Electronic circuits - Testing
Electronic digital computers - Circuits - Testing
ISBN 1-5090-8449-5
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910139855303321
New York : , : IEEE, , 2008
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