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MARC Lista (tabellare)
.. Latin American Test Workshop
.. Latin American Test Workshop
Pubbl/distr/stampa Piscataway, NJ : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers
Disciplina 621
Soggetto topico Electronic apparatus and appliances - Testing
Electronic systems - Testing
Computer software - Testing
Soggetto genere / forma Conference papers and proceedings.
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Periodico
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti LATW ..
Record Nr. UNINA-9910626177803321
Piscataway, NJ : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
.. Latin American Test Workshop
.. Latin American Test Workshop
Pubbl/distr/stampa Piscataway, NJ : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers
Disciplina 621
Soggetto topico Electronic apparatus and appliances - Testing
Electronic systems - Testing
Computer software - Testing
Soggetto genere / forma Conference papers and proceedings.
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Periodico
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti LATW ..
Record Nr. UNISA-996280227403316
Piscataway, NJ : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers
Materiale a stampa
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2001 24th International Spring Seminar on Electronics Technology
2001 24th International Spring Seminar on Electronics Technology
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : I E E E, 2001
Descrizione fisica 1 online resource (iv, 309 pages) : illustrations
Disciplina 621.381
Altri autori (Persone) SvastaPaul
DumitracheI
Soggetto topico Electronic apparatus and appliances - Testing
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996217706503316
[Place of publication not identified], : I E E E, 2001
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2001 24th International Spring Seminar on Electronics Technology
2001 24th International Spring Seminar on Electronics Technology
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : I E E E, 2001
Descrizione fisica 1 online resource (iv, 309 pages) : illustrations
Disciplina 621.381
Altri autori (Persone) SvastaPaul
DumitracheI
Soggetto topico Electronic apparatus and appliances - Testing
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910872761303321
[Place of publication not identified], : I E E E, 2001
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2006 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
2006 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : I E E E, 2006
Descrizione fisica 1 online resource (xiii, 229 pages) : illustrations
Disciplina 621.3810287
Soggetto topico Electronic apparatus and appliances - Testing
Semiconductors - Testing
ISBN 1-5090-9294-3
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996207692603316
[Place of publication not identified], : I E E E, 2006
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2006 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
2006 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : I E E E, 2006
Descrizione fisica 1 online resource (xiii, 229 pages) : illustrations
Disciplina 621.3810287
Soggetto topico Electronic apparatus and appliances - Testing
Semiconductors - Testing
ISBN 9781509092949
1509092943
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910145625903321
[Place of publication not identified], : I E E E, 2006
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2007 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures : ICMTS : conference proceedings : March 19-22, Takeda Hall, The University of Tokyo, Japan
2007 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures : ICMTS : conference proceedings : March 19-22, Takeda Hall, The University of Tokyo, Japan
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : IEEE, 2007
Soggetto topico Integrated circuits - Testing
Semiconductors - Testing
Electronic apparatus and appliances - Testing
Electrical & Computer Engineering
Engineering & Applied Sciences
Electrical Engineering
ISBN 1-5090-8269-7
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996280845903316
[Place of publication not identified], : IEEE, 2007
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2007 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures : ICMTS : conference proceedings : March 19-22, Takeda Hall, The University of Tokyo, Japan
2007 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures : ICMTS : conference proceedings : March 19-22, Takeda Hall, The University of Tokyo, Japan
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : IEEE, 2007
Soggetto topico Integrated circuits - Testing
Semiconductors - Testing
Electronic apparatus and appliances - Testing
Electrical & Computer Engineering
Engineering & Applied Sciences
Electrical Engineering
ISBN 9781509082698
1509082697
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910143014603321
[Place of publication not identified], : IEEE, 2007
Materiale a stampa
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2008 IEEE 14th International Mixed-signals, Sensors, and Systems Test Workshop : Vancouver, BC, Canada, 18-20 June 2008
2008 IEEE 14th International Mixed-signals, Sensors, and Systems Test Workshop : Vancouver, BC, Canada, 18-20 June 2008
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : IEEE, 2008
Disciplina 621.381
Soggetto topico Electronic apparatus and appliances - Testing
Biosensors
Detectors
Signal processing
Automatic test equipment
Electrical & Computer Engineering
Engineering & Applied Sciences
Electrical Engineering
ISBN 1-5090-7787-1
1-4244-2396-1
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996205030503316
[Place of publication not identified], : IEEE, 2008
Materiale a stampa
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2008 IEEE 14th International Mixed-signals, Sensors, and Systems Test Workshop : Vancouver, BC, Canada, 18-20 June 2008
2008 IEEE 14th International Mixed-signals, Sensors, and Systems Test Workshop : Vancouver, BC, Canada, 18-20 June 2008
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : IEEE, 2008
Disciplina 621.381
Soggetto topico Electronic apparatus and appliances - Testing
Biosensors
Detectors
Signal processing
Automatic test equipment
Electrical & Computer Engineering
Engineering & Applied Sciences
Electrical Engineering
ISBN 9781509077878
1509077871
9781424423965
1424423961
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910145386703321
[Place of publication not identified], : IEEE, 2008
Materiale a stampa
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