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Error analysis and calibration uncertainty of capacitance standards at NIST [[electronic resource] /] / Y. May Chang
Error analysis and calibration uncertainty of capacitance standards at NIST [[electronic resource] /] / Y. May Chang
Autore Chang Y. May
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology, , [2000]
Descrizione fisica 1 online resource (1 volumes (various pagings)) : illustrations
Collana NIST special publication
NIST measurement services
Soggetto topico Capacitance meters - Calibration
Electric capacity - Standards - United States
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910700124303321
Chang Y. May  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology, , [2000]
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
NIST measurement assurance program for capacitance standards at 1 kHz / / Y. May. Chang
NIST measurement assurance program for capacitance standards at 1 kHz / / Y. May. Chang
Autore Chang Y. May
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1996
Descrizione fisica 1 online resource
Altri autori (Persone) ChangY. May
Collana NIST technical note
Soggetto topico Capacitance meters - Calibration
Electric capacity - Standards - United States
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910711205403321
Chang Y. May  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1996
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui