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IEEE Standard for Boundary-Scan Testing of Advanced Digital Networks : IEEE Std 1149.6-2003 / / IEEE Computer Society Test Technology Standards Committee, Institute of Electrical and Electronics Engineers, IEEE-SA Standards Board
IEEE Standard for Boundary-Scan Testing of Advanced Digital Networks : IEEE Std 1149.6-2003 / / IEEE Computer Society Test Technology Standards Committee, Institute of Electrical and Electronics Engineers, IEEE-SA Standards Board
Pubbl/distr/stampa New York, N.Y. : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2003
Descrizione fisica 1 online resource (vi, 132 pages) : illustrations
Disciplina 621.381531
Soggetto topico Boundary scan testing - Standards
Integrated circuits - Testing - Standards
ISBN 0-7381-3577-1
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti IEEE Std 1149.6-2003
Record Nr. UNISA-996280528003316
New York, N.Y. : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2003
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui
IEEE Standard for Boundary-Scan Testing of Advanced Digital Networks : IEEE Std 1149.6-2003 / / IEEE Computer Society Test Technology Standards Committee, Institute of Electrical and Electronics Engineers, IEEE-SA Standards Board
IEEE Standard for Boundary-Scan Testing of Advanced Digital Networks : IEEE Std 1149.6-2003 / / IEEE Computer Society Test Technology Standards Committee, Institute of Electrical and Electronics Engineers, IEEE-SA Standards Board
Pubbl/distr/stampa New York, N.Y. : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2003
Descrizione fisica 1 online resource (vi, 132 pages) : illustrations
Disciplina 621.381531
Soggetto topico Boundary scan testing - Standards
Integrated circuits - Testing - Standards
ISBN 0-7381-3577-1
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti IEEE Std 1149.6-2003
Record Nr. UNINA-9910147228303321
New York, N.Y. : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2003
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui