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1149.7-2022 - IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture / / IEEE
| 1149.7-2022 - IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture / / IEEE |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2022 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (1048 pages) |
| Disciplina | 621.46 |
| Soggetto topico |
Electronic controllers
Debugging in computer science Boundary scan testing |
| ISBN | 1-5044-8875-X |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-996574986503316 |
| New York : , : IEEE, , 2022 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
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IEEE Std 1149.6-2015 (Revision of IEEE Std 1149.6-2003) : IEEE Standard for Boundary-Scan Testing of Advanced Digital Networks / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| IEEE Std 1149.6-2015 (Revision of IEEE Std 1149.6-2003) : IEEE Standard for Boundary-Scan Testing of Advanced Digital Networks / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, NJ, USA : , : IEEE, , 2016 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (230 pages) |
| Disciplina | 621.3815 |
| Soggetto topico |
Boundary scan testing
Microelectronics |
| ISBN | 1-5044-0596-X |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | IEEE Std 1149.6-2015 |
| Record Nr. | UNINA-9910136383603321 |
| Piscataway, NJ, USA : , : IEEE, , 2016 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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IEEE Std 1149.6-2015 (Revision of IEEE Std 1149.6-2003) : IEEE Standard for Boundary-Scan Testing of Advanced Digital Networks / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| IEEE Std 1149.6-2015 (Revision of IEEE Std 1149.6-2003) : IEEE Standard for Boundary-Scan Testing of Advanced Digital Networks / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, NJ, USA : , : IEEE, , 2016 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (230 pages) |
| Disciplina | 621.3815 |
| Soggetto topico |
Boundary scan testing
Microelectronics |
| ISBN | 1-5044-0596-X |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | IEEE Std 1149.6-2015 |
| Record Nr. | UNISA-996280500403316 |
| Piscataway, NJ, USA : , : IEEE, , 2016 | ||
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