top

  Info

  • Utilizzare la checkbox di selezione a fianco di ciascun documento per attivare le funzionalità di stampa, invio email, download nei formati disponibili del (i) record.

  Info

  • Utilizzare questo link per rimuovere la selezione effettuata.
Comprehensive lifecycle for assuring system safety / / John C. Knight and Jonathan C. Rowanhill
Comprehensive lifecycle for assuring system safety / / John C. Knight and Jonathan C. Rowanhill
Autore Knight John C.
Pubbl/distr/stampa Hampton, Virginia : , : National Aeronautics and Space Administration, Langley Research Center, , April 2017
Descrizione fisica 1 online resource (ii, 32 pages) : illustrations
Collana NASA/CR
Soggetto topico Computer Systems
Assurance
Argument
Safety
Lifecycle
Bibliographies
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910705615503321
Knight John C.  
Hampton, Virginia : , : National Aeronautics and Space Administration, Langley Research Center, , April 2017
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Das Historische Als Argument : Geschichtsbezuege in Bildungsdebatten
Das Historische Als Argument : Geschichtsbezuege in Bildungsdebatten
Autore Gather Katharina
Edizione [1st ed.]
Pubbl/distr/stampa Frankfurt a.M. : , : Peter Lang GmbH, Internationaler Verlag der Wissenschaften, , 2024
Descrizione fisica 1 online resource (222 pages)
Altri autori (Persone) GrubeNorbert
SchwerdtUlrich
Collana Studien Zur Bildungsreform - Neue Folge Series
Soggetto topico Adrian
Argument
Bildungsdebatten
Bildungsreform
deutscher Humanismus um 1500
Gather
Geschichtsbezüge
Grube
Historische
Historisches Argumentieren
Katharina
Norbert
Schulreform des 19. und 20. Jahrhunderts
Schwerdt
Stähli
Ulrich
ISBN 3-631-89574-7
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione ger
Record Nr. UNINA-9910864284703321
Gather Katharina  
Frankfurt a.M. : , : Peter Lang GmbH, Internationaler Verlag der Wissenschaften, , 2024
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui