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Accelerated life testing and experts' opinions in reliability = Prove di durata accelerate e opinioni degli esperti in affidabilità / edited by C.A. Clarotti and D.V. Lindley, directors of the course S. Terenzo di Lerici, Villa Marigola, 28 July-1 August, 1986
| Accelerated life testing and experts' opinions in reliability = Prove di durata accelerate e opinioni degli esperti in affidabilità / edited by C.A. Clarotti and D.V. Lindley, directors of the course S. Terenzo di Lerici, Villa Marigola, 28 July-1 August, 1986 |
| Autore | International School of Physics "Enrico Fermi"Meeting <1986 ; Lerici, Italy> |
| Pubbl/distr/stampa | Amsterdam : North-Holland |
| Descrizione fisica | xviii, 236 p. : ill. ; 25 cm |
| Disciplina | 620.0042 |
| Altri autori (Persone) |
Clarotti, C. A.
Lindley, D. V. |
| Altri autori (Enti) | Società Italiana di Fisica |
| Collana | Proceedings of the International School of Physics "Enrico Fermi" ; 102 |
| Soggetto topico |
Accelerated life testing - Congresses
Expertise - Congresses Reliability (Engineering) - Congresses |
| ISBN | 0444871012 |
| Classificazione |
LC TA169.3
53.7 |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISALENTO-991000748659707536 |
International School of Physics "Enrico Fermi"Meeting <1986 ; Lerici, Italy>
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| Amsterdam : North-Holland | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. del Salento | ||
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Application of accelerated corrosion tests to service life prediction of materials
| Application of accelerated corrosion tests to service life prediction of materials |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : ASTM, 1994 |
| Disciplina | 620.1/1223 |
| Collana | STP Application of accelerated corrosion tests to service life prediction of materials |
| Soggetto topico |
Corrosion and anti-corrosives - Congresses - Testing
Accelerated life testing - Congresses Stress corrosion - Congresses - Testing Chemical & Materials Engineering Engineering & Applied Sciences Materials Science |
| ISBN | 0-8031-5265-5 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910164320303321 |
| [Place of publication not identified], : ASTM, 1994 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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Proceedings : 1997 GaAs Reliability Workshop : October 12, 1997, Anaheim, California
| Proceedings : 1997 GaAs Reliability Workshop : October 12, 1997, Anaheim, California |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : IEEE, 1997 |
| Disciplina | 621.3815/2 |
| Soggetto topico |
Gallium arsenide semiconductors - Congresses - Reliability
Bipolar transistors - Reliability - Congresses Accelerated life testing - Congresses Electrical & Computer Engineering Engineering & Applied Sciences Electrical Engineering |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-996215170803316 |
| [Place of publication not identified], : IEEE, 1997 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
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Proceedings : 1997 GaAs Reliability Workshop : October 12, 1997, Anaheim, California
| Proceedings : 1997 GaAs Reliability Workshop : October 12, 1997, Anaheim, California |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : IEEE, 1997 |
| Disciplina | 621.3815/2 |
| Soggetto topico |
Gallium arsenide semiconductors - Congresses - Reliability
Bipolar transistors - Reliability - Congresses Accelerated life testing - Congresses Electrical & Computer Engineering Engineering & Applied Sciences Electrical Engineering |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910872677203321 |
| [Place of publication not identified], : IEEE, 1997 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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