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IEEE No 300-1969 (USAS N42.1-1969) : USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors (For Ionizing Radiation) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| IEEE No 300-1969 (USAS N42.1-1969) : USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors (For Ionizing Radiation) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 1968 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (34 pages) |
| Disciplina | 539.2 |
| Soggetto topico | Ionizing radiation |
| ISBN | 1-5044-0275-8 |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
300-1969 - USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors
USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors IEEE No 300-1969 |
| Record Nr. | UNINA-9910136273203321 |
| New York : , : IEEE, , 1968 | ||
| Materiale a stampa | ||
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IEEE No 300-1969 (USAS N42.1-1969) : USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors (For Ionizing Radiation) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| IEEE No 300-1969 (USAS N42.1-1969) : USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors (For Ionizing Radiation) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 1968 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (34 pages) |
| Disciplina | 539.2 |
| Soggetto topico | Ionizing radiation |
| ISBN | 1-5044-0275-8 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
300-1969 - USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors
USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors IEEE No 300-1969 |
| Record Nr. | UNISA-996280848003316 |
| New York : , : IEEE, , 1968 | ||
| Materiale a stampa | ||
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