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2013 22nd Asian Test Symposium : (ATS 2013) : Yilan, Taiwan, 18-21 November 2013 / / Asian Test Symposium (22nd : 2013 : I-lan hsien, Taiwan)
| 2013 22nd Asian Test Symposium : (ATS 2013) : Yilan, Taiwan, 18-21 November 2013 / / Asian Test Symposium (22nd : 2013 : I-lan hsien, Taiwan) |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, NJ, : , : IEEE, , 2013 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (309 pages) : illustrations |
| Disciplina | 621.3815 |
| Soggetto topico |
Electronic circuits - Testing
Electronic digital computers Circuits - Testing Fault-tolerant computing |
| ISBN | 0-7695-5080-0 |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | Test Symposium |
| Record Nr. | UNISA-996280213103316 |
| Piscataway, NJ, : , : IEEE, , 2013 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
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2013 22nd Asian Test Symposium : (ATS 2013) : Yilan, Taiwan, 18-21 November 2013 / / Asian Test Symposium (22nd : 2013 : I-lan hsien, Taiwan)
| 2013 22nd Asian Test Symposium : (ATS 2013) : Yilan, Taiwan, 18-21 November 2013 / / Asian Test Symposium (22nd : 2013 : I-lan hsien, Taiwan) |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, NJ, : , : IEEE, , 2013 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (309 pages) : illustrations |
| Disciplina | 621.3815 |
| Soggetto topico |
Electronic circuits - Testing
Electronic digital computers Circuits - Testing Fault-tolerant computing |
| ISBN | 0-7695-5080-0 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | Test Symposium |
| Record Nr. | UNINA-9910132357903321 |
| Piscataway, NJ, : , : IEEE, , 2013 | ||
| Materiale a stampa | ||
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2015 20th IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2015 : May 25th-29th 2015, Cluj-Napoca, Romania / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| 2015 20th IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2015 : May 25th-29th 2015, Cluj-Napoca, Romania / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, New Jersey : , : IEEE, , 2015 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (211 pages) : illustrations |
| Disciplina | 620.0044 |
| Soggetto topico |
Automatic test equipment
Electronic digital computers - Circuits - Testing Integrated circuits - Testing |
| ISBN | 1-4799-7603-2 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
2015 20th IEEE European Test Symposium
Test Symposium |
| Record Nr. | UNINA-9910134756903321 |
| Piscataway, New Jersey : , : IEEE, , 2015 | ||
| Materiale a stampa | ||
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2015 20th IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2015 : May 25th-29th 2015, Cluj-Napoca, Romania / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| 2015 20th IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2015 : May 25th-29th 2015, Cluj-Napoca, Romania / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, New Jersey : , : IEEE, , 2015 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (211 pages) : illustrations |
| Disciplina | 620.0044 |
| Soggetto topico |
Automatic test equipment
Electronic digital computers - Circuits - Testing Integrated circuits - Testing |
| ISBN | 1-4799-7603-2 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
2015 20th IEEE European Test Symposium
Test Symposium |
| Record Nr. | UNISA-996280213703316 |
| Piscataway, New Jersey : , : IEEE, , 2015 | ||
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Test Symposium (ATS), 2014 IEEE 23rd Asian
| Test Symposium (ATS), 2014 IEEE 23rd Asian |
| Pubbl/distr/stampa | IEEE |
| ISBN | 1-4799-6030-6 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
2014 IEEE 23rd Asian Test Symposium
Test Symposium |
| Record Nr. | UNISA-996280226303316 |
| IEEE | ||
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Test Symposium (ATS), 2014 IEEE 23rd Asian
| Test Symposium (ATS), 2014 IEEE 23rd Asian |
| Pubbl/distr/stampa | IEEE |
| ISBN | 1-4799-6030-6 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
2014 IEEE 23rd Asian Test Symposium
Test Symposium |
| Record Nr. | UNINA-9910135081303321 |
| IEEE | ||
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Test Symposium (LATS), 2015 16th Latin-American
| Test Symposium (LATS), 2015 16th Latin-American |
| Pubbl/distr/stampa | IEEE |
| ISBN | 1-4673-6710-9 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
2015 16th Latin-American Test Symposium (LATS)
2015 16th Latin-American Test Symposium Test Symposium |
| Record Nr. | UNISA-996280222903316 |
| IEEE | ||
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Test Symposium (LATS), 2015 16th Latin-American
| Test Symposium (LATS), 2015 16th Latin-American |
| Pubbl/distr/stampa | IEEE |
| ISBN | 1-4673-6710-9 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
2015 16th Latin-American Test Symposium (LATS)
2015 16th Latin-American Test Symposium Test Symposium |
| Record Nr. | UNINA-9910135621403321 |
| IEEE | ||
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