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Proceedings / / Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium
Proceedings / / Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium
Pubbl/distr/stampa New York, NY : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 1991-
Disciplina 621
621.3815/2
Soggetto topico Semiconductors - Thermal properties
Semiconductors - Cooling
Amorphous semiconductors - Thermal properties
Integrated circuits
Soggetto genere / forma Conference papers and proceedings.
ISSN 1065-2221
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Periodico
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti IEEE SEMI-THERM Symposium
Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium
Annual Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium
SEMI-THERM
Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium
Record Nr. UNISA-996559964103316
New York, NY : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 1991-
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui
Proceedings / / Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium
Proceedings / / Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium
Pubbl/distr/stampa New York, NY : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 1991-
Disciplina 621
621.3815/2
Soggetto topico Semiconductors - Thermal properties
Semiconductors - Cooling
Amorphous semiconductors - Thermal properties
Integrated circuits
Soggetto genere / forma Conference papers and proceedings.
ISSN 1065-2221
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Periodico
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti IEEE SEMI-THERM Symposium
Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium
Annual Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium
SEMI-THERM
Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium
Record Nr. UNINA-9910874599803321
New York, NY : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 1991-
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM), 2014 30th Annual
Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM), 2014 30th Annual
Pubbl/distr/stampa IEEE
ISBN 1-4799-4374-6
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti 2014 Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM)
2014 Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium
Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium
Record Nr. UNISA-996280761603316
IEEE
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
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Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM), 2014 30th Annual
Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM), 2014 30th Annual
Pubbl/distr/stampa IEEE
ISBN 1-4799-4374-6
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti 2014 Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM)
2014 Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium
Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium
Record Nr. UNINA-9910135645203321
IEEE
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