Proceedings / / International Test Conference |
Pubbl/distr/stampa | [Silver Spring, Md.] : , : [IEEE Computer Society Press] |
Disciplina | 004 |
Soggetto topico |
Computer storage devices
Integrated circuits - Testing Semiconductor storage devices - Testing |
Soggetto genere / forma |
Periodicals.
Conference papers and proceedings. |
ISSN | 2378-2250 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Periodico |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
International Test Conference
ITC IEEE ... Test Conference IEEE International Test Conference Proceedings of the International Test Conference |
Record Nr. | UNINA-9910626163503321 |
[Silver Spring, Md.] : , : [IEEE Computer Society Press] | ||
Materiale a stampa | ||
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Proceedings / / International Test Conference |
Pubbl/distr/stampa | [Silver Spring, Md.] : , : [IEEE Computer Society Press] |
Disciplina | 004 |
Soggetto topico |
Computer storage devices
Integrated circuits - Testing Semiconductor storage devices - Testing |
Soggetto genere / forma |
Periodicals.
Conference papers and proceedings. |
ISSN | 2378-2250 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Periodico |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
International Test Conference
ITC IEEE ... Test Conference IEEE International Test Conference Proceedings of the International Test Conference |
Record Nr. | UNISA-996281107403316 |
[Silver Spring, Md.] : , : [IEEE Computer Society Press] | ||
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