American National Standard for Evaluating the Image Quality of X-ray Computed Tomography (CT) Security-Screening Systems / / IEEE |
Pubbl/distr/stampa | New York, N.Y. : , : IEEE, , 2022 |
Descrizione fisica | 1 online resource (78 pages) : illustrations |
Disciplina | 616.0 |
Collana | IEEE Std |
Soggetto topico | Tomography |
ISBN | 1-5044-8679-X |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti | N42.45-2021 - American National Standard for Evaluating the Image Quality of X-ray Computed Tomography |
Record Nr. | UNISA-996575015203316 |
New York, N.Y. : , : IEEE, , 2022 | ||
Materiale a stampa | ||
Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
|
N42.45-2021 : American National Standard for Evaluating the Image Quality of X-ray Computed Tomography (CT) Security-Screening Systems - Redline / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , [2022] |
Descrizione fisica | 1 online resource (108 pages) |
Disciplina | 616.0757 |
Soggetto topico | Tomography |
ISBN | 1-5044-9488-1 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti | N42.45-2021 - American National Standard for Evaluating the Image Quality of X-ray Computed Tomography |
Record Nr. | UNISA-996577916103316 |
New York : , : IEEE, , [2022] | ||
Materiale a stampa | ||
Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
|