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Microwave photoelasticity : a resonant wavelength approach applied to PEEK polymer / / Peter J. Schemmel and Seth W. Waldstein
Microwave photoelasticity : a resonant wavelength approach applied to PEEK polymer / / Peter J. Schemmel and Seth W. Waldstein
Autore Schemmel Peter J.
Pubbl/distr/stampa Cleveland, Ohio : , : National Aeronautics and Space Administration, Glenn Research Center, , March 2020
Descrizione fisica 1 online resource (12 pages) : color illustrations
Collana NASA/TM
Soggetto topico Polymers
PEEK
Nondestructive tests
Photoelasticity
Materials tests
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti Microwave photoelasticity
Record Nr. UNINA-9910713497103321
Schemmel Peter J.  
Cleveland, Ohio : , : National Aeronautics and Space Administration, Glenn Research Center, , March 2020
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Microwave photoelasticity : exploiting multiple resonances to measure stress changes within yttria-partially-stabilized / / Seth W. Waldstein and Peter J. Schemmel
Microwave photoelasticity : exploiting multiple resonances to measure stress changes within yttria-partially-stabilized / / Seth W. Waldstein and Peter J. Schemmel
Autore Waldstein Seth W.
Pubbl/distr/stampa Cleveland, Ohio : , : National Aeronautics and Space Administration, Glenn Research Center, , October 2021
Descrizione fisica 1 online resource (12 pages) : color illustrations
Collana NASA/TM
Soggetto topico Photoelasticity
Zirconium
Yttria-stabilized zirconia
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti Microwave photoelasticity
Record Nr. UNINA-9910716941103321
Waldstein Seth W.  
Cleveland, Ohio : , : National Aeronautics and Space Administration, Glenn Research Center, , October 2021
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui