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Proceedings
| Proceedings |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, NJ, : IEEE |
| Disciplina | 621.39 |
| Soggetto topico |
Integrated circuits - Very large scale integration - Design and construction
Integrated circuits - Very large scale integration - Testing Integrated circuits - Fault tolerance |
| Soggetto genere / forma | Conference papers and proceedings. |
| ISSN | 2162-061X |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Periodico |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
International Design and Test Workshop
IDT IEEE International Design and Test Workshop |
| Record Nr. | UNISA-996280903303316 |
| Piscataway, NJ, : IEEE | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
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Proceedings
| Proceedings |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, NJ, : IEEE |
| Disciplina | 621.39 |
| Soggetto topico |
Integrated circuits - Very large scale integration - Design and construction
Integrated circuits - Very large scale integration - Testing Integrated circuits - Fault tolerance |
| Soggetto genere / forma | Conference papers and proceedings. |
| ISSN | 2162-061X |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Periodico |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
International Design and Test Workshop
IDT IEEE International Design and Test Workshop |
| Record Nr. | UNINA-9910626010103321 |
| Piscataway, NJ, : IEEE | ||
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