Info
- Utilizzare la checkbox di selezione a fianco di ciascun documento per attivare le funzionalità di stampa, invio email, download nei formati disponibili del (i) record.
IEEE Std C135.64-2012 : IEEE Guide for Slip and Pull-Out Strength Testing of Bolted Dead End Strain Clamps / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| IEEE Std C135.64-2012 : IEEE Guide for Slip and Pull-Out Strength Testing of Bolted Dead End Strain Clamps / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | New York, NY, USA : , : IEEE, , 2012 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (ix, 6 pages) : illustrations |
| Disciplina | 621.31922 |
| Collana | IEEE Std |
| Soggetto topico |
Overhead electric lines
Electric conductors |
| ISBN | 0-7381-7277-4 |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | IEEE Std C135.64-2012: IEEE Guide for Slip and Pull-Out Strength Testing of Bolted Dead End Strain Clamps |
| Record Nr. | UNISA-996281046203316 |
| New York, NY, USA : , : IEEE, , 2012 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
| ||
IEEE Std C135.64-2012 : IEEE Guide for Slip and Pull-Out Strength Testing of Bolted Dead End Strain Clamps / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| IEEE Std C135.64-2012 : IEEE Guide for Slip and Pull-Out Strength Testing of Bolted Dead End Strain Clamps / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | New York, NY, USA : , : IEEE, , 2012 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (ix, 6 pages) : illustrations |
| Disciplina | 621.31922 |
| Collana | IEEE Std |
| Soggetto topico |
Overhead electric lines
Electric conductors |
| ISBN | 0-7381-7277-4 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | IEEE Std C135.64-2012: IEEE Guide for Slip and Pull-Out Strength Testing of Bolted Dead End Strain Clamps |
| Record Nr. | UNINA-9910135315703321 |
| New York, NY, USA : , : IEEE, , 2012 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
| ||