top

  Info

  • Utilizzare la checkbox di selezione a fianco di ciascun documento per attivare le funzionalità di stampa, invio email, download nei formati disponibili del (i) record.

  Info

  • Utilizzare questo link per rimuovere la selezione effettuata.
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description : Redline / / IEEE
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description : Redline / / IEEE
Edizione [(Revision of IEEE Std 1671.5-2008).]
Pubbl/distr/stampa Piscataway, N.J. : , : IEEE, , 2015
Descrizione fisica 1 online resource (52 pages)
Disciplina 620.0
Soggetto topico Automatic test equipment
ISBN 0-7381-9824-2
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti 1671.5-2015 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.5-2015 (Revision of IEEE Std 1671.5-2008) - Redline: IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description - Redline
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.5-2015
Record Nr. UNINA-9910135874403321
Piscataway, N.J. : , : IEEE, , 2015
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description / / IEEE
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description / / IEEE
Edizione [(Revision of IEEE Std 1671.5-2008).]
Pubbl/distr/stampa New York, N.Y. : , : IEEE, , 2015
Descrizione fisica 1 online resource (viii, 17 pages) : illustrations
Disciplina 620.0
Soggetto topico Automatic test equipment
ISBN 0-7381-9622-3
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti 1671.5-2015 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.5-2015 (Revision of IEEE Std 1671.5-2008): IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.5-2015
Record Nr. UNINA-9910135874603321
New York, N.Y. : , : IEEE, , 2015
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description / / IEEE
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description / / IEEE
Edizione [(Revision of IEEE Std 1671.5-2008).]
Pubbl/distr/stampa New York, N.Y. : , : IEEE, , 2015
Descrizione fisica 1 online resource (viii, 17 pages) : illustrations
Disciplina 620.0
Soggetto topico Automatic test equipment
ISBN 0-7381-9622-3
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti 1671.5-2015 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.5-2015 (Revision of IEEE Std 1671.5-2008): IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.5-2015
Record Nr. UNISA-996278284503316
New York, N.Y. : , : IEEE, , 2015
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description : Redline / / IEEE
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description : Redline / / IEEE
Edizione [(Revision of IEEE Std 1671.5-2008).]
Pubbl/distr/stampa Piscataway, N.J. : , : IEEE, , 2015
Descrizione fisica 1 online resource (52 pages)
Disciplina 620.0
Soggetto topico Automatic test equipment
ISBN 0-7381-9824-2
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti 1671.5-2015 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.5-2015 (Revision of IEEE Std 1671.5-2008) - Redline: IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description - Redline
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.5-2015
Record Nr. UNISA-996278284703316
Piscataway, N.J. : , : IEEE, , 2015
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui