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IEEE Standard Specifications for Password-Based Public-Key Cryptographic Techniques / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
IEEE Standard Specifications for Password-Based Public-Key Cryptographic Techniques / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
Pubbl/distr/stampa New York : , : IEEE, , 2008
Descrizione fisica 1 online resource (ix, 127 pages)
Disciplina 005.82
Soggetto topico Digital signatures
Public key cryptography
ISBN 0-7381-6016-4
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti IEEE Std 1620-2008: IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials
IEEE Std 1363.2-2008
IEEE Std 1620-2008
Record Nr. UNINA-9910440329203321
New York : , : IEEE, , 2008
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
IEEE Standard Specifications for Password-Based Public-Key Cryptographic Techniques / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
IEEE Standard Specifications for Password-Based Public-Key Cryptographic Techniques / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
Pubbl/distr/stampa New York : , : IEEE, , 2008
Descrizione fisica 1 online resource (ix, 127 pages)
Disciplina 005.82
Soggetto topico Digital signatures
Public key cryptography
ISBN 0-7381-6016-4
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti IEEE Std 1620-2008: IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials
IEEE Std 1363.2-2008
IEEE Std 1620-2008
Record Nr. UNISA-996280742903316
New York : , : IEEE, , 2008
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui
IEEE Std 1620-2008 (Revision of IEEE Std 1620-2004) - Redline / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
IEEE Std 1620-2008 (Revision of IEEE Std 1620-2004) - Redline / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2008
Descrizione fisica 1 online resource (viii, 81 pages)
Disciplina 025.04
Soggetto topico Information storage and retrieval systems
ISBN 0-7381-6951-X
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti IEEE Std 1620-2008 (Revision of IEEE Std 1620-2004) - Redline: IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials - Redline
IEEE Std 1620-2008
Record Nr. UNINA-9910135373703321
[Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2008
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IEEE Std 1620-2008 (Revision of IEEE Std 1620-2004) - Redline / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
IEEE Std 1620-2008 (Revision of IEEE Std 1620-2004) - Redline / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2008
Descrizione fisica 1 online resource (viii, 81 pages)
Disciplina 025.04
Soggetto topico Information storage and retrieval systems
ISBN 0-7381-6951-X
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti IEEE Std 1620-2008 (Revision of IEEE Std 1620-2004) - Redline: IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials - Redline
IEEE Std 1620-2008
Record Nr. UNISA-996278300903316
[Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2008
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
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