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IEEE standard for test methods for the characterization of organic transistors and materials / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| IEEE standard for test methods for the characterization of organic transistors and materials / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | New York, NY : , : IEEE, , 2004 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (vi, 13 pages) |
| Disciplina | 621.3815284 |
| Soggetto topico |
Field-effect transistors
Organic semiconductors |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | IEEE Std 1620-2004 |
| Record Nr. | UNINA-9910147230703321 |
| New York, NY : , : IEEE, , 2004 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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IEEE standard for test methods for the characterization of organic transistors and materials / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| IEEE standard for test methods for the characterization of organic transistors and materials / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | New York, NY : , : IEEE, , 2004 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (vi, 13 pages) |
| Disciplina | 621.3815284 |
| Soggetto topico |
Field-effect transistors
Organic semiconductors |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | IEEE Std 1620-2004 |
| Record Nr. | UNISA-996278279303316 |
| New York, NY : , : IEEE, , 2004 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
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