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IEEE Std 1500-2005 : IEEE Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| IEEE Std 1500-2005 : IEEE Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | New York, NY : , : IEEE, , 2005 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (viii, 117 pages) : illustrations (some color) |
| Disciplina | 004.16 |
| Soggetto topico |
Embedded computer systems
Integrated circuits - Testing Systems on a chip |
| ISBN | 0-7381-4694-3 |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | IEEE Std 1500-2005 |
| Record Nr. | UNISA-996280731803316 |
| New York, NY : , : IEEE, , 2005 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
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IEEE Std 1500-2005 : IEEE Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| IEEE Std 1500-2005 : IEEE Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | New York, NY : , : IEEE, , 2005 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (viii, 117 pages) : illustrations (some color) |
| Disciplina | 004.16 |
| Soggetto topico |
Embedded computer systems
Integrated circuits - Testing Systems on a chip |
| ISBN | 0-7381-4694-3 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | IEEE Std 1500-2005 |
| Record Nr. | UNINA-9910135872503321 |
| New York, NY : , : IEEE, , 2005 | ||
| Materiale a stampa | ||
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