IEEE Standard for Automatic Test Markup Language / / IEEE
| IEEE Standard for Automatic Test Markup Language / / IEEE |
| Edizione | [(Revision of IEEE Std 1671.4-2007).] |
| Pubbl/distr/stampa | New York, N.Y. : , : IEEE, , 2014 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (viii, 54 pages) : illustrations |
| Disciplina | 004.6 |
| Soggetto topico | Computer network protocols - Standards |
| ISBN | 0-7381-9022-5 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.4-2014 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.4-2014 (Revision of IEEE Std 1671.4-2007): IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Configuration IEEE Standard for Automatic Test Markup Language IEEE Std 1671.4-2014 |
| Record Nr. | UNINA-9910135875503321 |
| New York, N.Y. : , : IEEE, , 2014 | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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IEEE Standard for Automatic Test Markup Language / / IEEE
| IEEE Standard for Automatic Test Markup Language / / IEEE |
| Edizione | [(Revision of IEEE Std 1671.4-2007).] |
| Pubbl/distr/stampa | New York, N.Y. : , : IEEE, , 2014 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (viii, 54 pages) : illustrations |
| Disciplina | 004.6 |
| Soggetto topico | Computer network protocols - Standards |
| ISBN | 0-7381-9022-5 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.4-2014 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.4-2014 (Revision of IEEE Std 1671.4-2007): IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Configuration IEEE Standard for Automatic Test Markup Language IEEE Std 1671.4-2014 |
| Record Nr. | UNISA-996278287003316 |
| New York, N.Y. : , : IEEE, , 2014 | ||
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IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description : Redline / / IEEE
| IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description : Redline / / IEEE |
| Edizione | [(Revision of IEEE Std 1671.5-2008).] |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, N.J. : , : IEEE, , 2015 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (52 pages) |
| Disciplina | 620.0 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 0-7381-9824-2 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.5-2015 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.5-2015 (Revision of IEEE Std 1671.5-2008) - Redline: IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description - Redline IEEE Standard for Automatic Test Markup Language IEEE Std 1671.5-2015 |
| Record Nr. | UNINA-9910135874403321 |
| Piscataway, N.J. : , : IEEE, , 2015 | ||
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IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description / / IEEE
| IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description / / IEEE |
| Edizione | [(Revision of IEEE Std 1671.5-2008).] |
| Pubbl/distr/stampa | New York, N.Y. : , : IEEE, , 2015 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (viii, 17 pages) : illustrations |
| Disciplina | 620.0 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 0-7381-9622-3 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.5-2015 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.5-2015 (Revision of IEEE Std 1671.5-2008): IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description IEEE Standard for Automatic Test Markup Language IEEE Std 1671.5-2015 |
| Record Nr. | UNINA-9910135874603321 |
| New York, N.Y. : , : IEEE, , 2015 | ||
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IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description / / IEEE
| IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description / / IEEE |
| Edizione | [(Revision of IEEE Std 1671.5-2008).] |
| Pubbl/distr/stampa | New York, N.Y. : , : IEEE, , 2015 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (viii, 17 pages) : illustrations |
| Disciplina | 620.0 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 0-7381-9622-3 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.5-2015 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.5-2015 (Revision of IEEE Std 1671.5-2008): IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description IEEE Standard for Automatic Test Markup Language IEEE Std 1671.5-2015 |
| Record Nr. | UNISA-996278284503316 |
| New York, N.Y. : , : IEEE, , 2015 | ||
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IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description : Redline / / IEEE
| IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description : Redline / / IEEE |
| Edizione | [(Revision of IEEE Std 1671.5-2008).] |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, N.J. : , : IEEE, , 2015 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (52 pages) |
| Disciplina | 620.0 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 0-7381-9824-2 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.5-2015 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.5-2015 (Revision of IEEE Std 1671.5-2008) - Redline: IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description - Redline IEEE Standard for Automatic Test Markup Language IEEE Std 1671.5-2015 |
| Record Nr. | UNISA-996278284703316 |
| Piscataway, N.J. : , : IEEE, , 2015 | ||
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IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Station Description : Redline / / IEEE
| IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Station Description : Redline / / IEEE |
| Edizione | [(Revision of IEEE Std 1671.6-2008).] |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, N.J. : , : IEEE, , 2015 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (63 pages) |
| Disciplina | 620.0 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 0-7381-9760-2 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.6-2015 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.6-2015 (Revision of IEEE Std 1671.6-2008) - Redline: IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Station Description - Redline IEEE Standard for Automatic Test Markup Language IEEE Std 1671.6-2015 |
| Record Nr. | UNINA-9910135873303321 |
| Piscataway, N.J. : , : IEEE, , 2015 | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Station Description : Redline / / IEEE
| IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Station Description : Redline / / IEEE |
| Edizione | [(Revision of IEEE Std 1671.6-2008).] |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, N.J. : , : IEEE, , 2015 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (63 pages) |
| Disciplina | 620.0 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 0-7381-9760-2 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.6-2015 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.6-2015 (Revision of IEEE Std 1671.6-2008) - Redline: IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Station Description - Redline IEEE Standard for Automatic Test Markup Language IEEE Std 1671.6-2015 |
| Record Nr. | UNISA-996278284203316 |
| Piscataway, N.J. : , : IEEE, , 2015 | ||
| Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
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IEEE Std 1671.1-2009 (Full_Use) / / IEEE
| IEEE Std 1671.1-2009 (Full_Use) / / IEEE |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2009 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (195 pages) |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 0-7381-8152-8 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.1-2009 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.1-2009 (Full_Use): IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML: Exchanging Test Descriptions IEEE Standard for Automatic Test Markup Language IEEE Std 1671.1-2009 |
| Record Nr. | UNINA-9910135876403321 |
| New York : , : IEEE, , 2009 | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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IEEE Std 1671.1-2009 (Full_Use) / / IEEE
| IEEE Std 1671.1-2009 (Full_Use) / / IEEE |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2009 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (195 pages) |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 0-7381-8152-8 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.1-2009 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.1-2009 (Full_Use): IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML: Exchanging Test Descriptions IEEE Standard for Automatic Test Markup Language IEEE Std 1671.1-2009 |
| Record Nr. | UNISA-996278287303316 |
| New York : , : IEEE, , 2009 | ||
| Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
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