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4th IEEE International Symposium on Electronic Design, Test and Applications (delta 2008) : 23-25 January 2008, Hong Kong, China / / IEEE Computer Society
4th IEEE International Symposium on Electronic Design, Test and Applications (delta 2008) : 23-25 January 2008, Hong Kong, China / / IEEE Computer Society
Pubbl/distr/stampa Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2008
Descrizione fisica 1 online resource (84 pages)
Disciplina 621.381
Altri autori (Persone) OsseiranAdam
Soggetto topico Electronics - Design
Electronics - Testing
ISBN 1-5090-7977-7
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti Fourth Institute of Electrical and Electronics Engineers International Symposium on Electronic Design, Test and Applications (delta 2008)
Record Nr. UNINA-9910145113403321
Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2008
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
4th IEEE International Symposium on Electronic Design, Test and Applications (delta 2008) : 23-25 January 2008, Hong Kong, China / / IEEE Computer Society
4th IEEE International Symposium on Electronic Design, Test and Applications (delta 2008) : 23-25 January 2008, Hong Kong, China / / IEEE Computer Society
Pubbl/distr/stampa Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2008
Descrizione fisica 1 online resource (84 pages)
Disciplina 621.381
Altri autori (Persone) OsseiranAdam
Soggetto topico Electronics - Design
Electronics - Testing
ISBN 1-5090-7977-7
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti Fourth Institute of Electrical and Electronics Engineers International Symposium on Electronic Design, Test and Applications (delta 2008)
Record Nr. UNISA-996215964703316
Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2008
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui