Proceedings / / IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : (DFT)
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| Titolo: |
Proceedings / / IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : (DFT)
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| Pubblicazione: | Los Alamitos, Calif. : , : IEEE Computer Society Press, , 1996-2010 |
| Los Alamitos, Calif. : , : IEEE Computer Society | |
| Descrizione fisica: | 15 volumes |
| Disciplina: | 621.39/5 |
| Soggetto topico: | Integrated circuits - Very large scale integration - Design and construction |
| Integrated circuits - Fault tolerance | |
| Soggetto genere / forma: | Conference papers and proceedings. |
| Periodicals. | |
| ISSN: | 2377-7966 |
| Titolo abbreviato (Periodici): | PROCEEDINGS |
| DEFECT AND FAULT TOLERANCE IN VLSI SYSTEMS, IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON | |
| Altri titoli varianti: | Proceedings of the IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems |
| Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems | |
| DFT | |
| Titolo autorizzato: | Proceedings |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Periodico |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910626134203321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |