ANSI/IEEE Std 300-1982 (Revision of IEEE No 300-1969) : IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 1992 |
Descrizione fisica | 1 online resource (154 pages) |
Disciplina | 338.4 |
Soggetto topico | Semiconductor industry |
ISBN | 1-5044-0276-6 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti | ANSI/IEEE Std 300-1982 |
Record Nr. | UNISA-996279854803316 |
New York : , : IEEE, , 1992 | ||
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ANSI/IEEE Std 300-1982 (Revision of IEEE No 300-1969) : IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 1992 |
Descrizione fisica | 1 online resource (154 pages) |
Disciplina | 338.4 |
Soggetto topico | Semiconductor industry |
ISBN | 1-5044-0276-6 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti | ANSI/IEEE Std 300-1982 |
Record Nr. | UNINA-9910136274203321 |
New York : , : IEEE, , 1992 | ||
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