2017 IEEE International Test Conference (ITC) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers Staff |
Pubbl/distr/stampa | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), , 2017 |
Descrizione fisica | 1 online resource (485 pages) : illustrations |
Disciplina | 621.38411 |
Soggetto topico |
Radio frequency
Semiconductors - Testing Computer software - Testing |
ISBN | 1-5386-3413-9 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti | 2017 IEEE International Test Conference |
Record Nr. | UNISA-996280879503316 |
Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), , 2017 | ||
Materiale a stampa | ||
Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
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2017 IEEE International Test Conference (ITC) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers Staff |
Pubbl/distr/stampa | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), , 2017 |
Descrizione fisica | 1 online resource (485 pages) : illustrations |
Disciplina | 621.38411 |
Soggetto topico |
Radio frequency
Semiconductors - Testing Computer software - Testing |
ISBN | 1-5386-3413-9 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti | 2017 IEEE International Test Conference |
Record Nr. | UNINA-9910250058603321 |
Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), , 2017 | ||
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