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2017 33rd Thermal Measurement, Modeling & Management Symposium (SEMI-THERM) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
2017 33rd Thermal Measurement, Modeling & Management Symposium (SEMI-THERM) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Pubbl/distr/stampa Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), , 2017
Descrizione fisica 1 online resource (various paging) : illustrations some color
Disciplina 621.38152
Soggetto topico Semiconductors - Cooling
Semiconductors - Thermal properties
ISBN 1-5386-1531-2
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti 2017 33rd Thermal Measurement, Modeling & Management Symposium
Record Nr. UNISA-996280189603316
Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), , 2017
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui
2017 33rd Thermal Measurement, Modeling & Management Symposium (SEMI-THERM) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
2017 33rd Thermal Measurement, Modeling & Management Symposium (SEMI-THERM) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Pubbl/distr/stampa Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), , 2017
Descrizione fisica 1 online resource (various paging) : illustrations some color
Disciplina 621.38152
Soggetto topico Semiconductors - Cooling
Semiconductors - Thermal properties
ISBN 1-5386-1531-2
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti 2017 33rd Thermal Measurement, Modeling & Management Symposium
Record Nr. UNINA-9910172623503321
Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), , 2017
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui