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2006 IEEE International Test Conference : Santa Clara, CA : 22-27 October 2006
2006 IEEE International Test Conference : Santa Clara, CA : 22-27 October 2006
Pubbl/distr/stampa IEEE
Disciplina 621.3815/48
Soggetto topico Integrated circuits - Testing
Electronic digital computers - Circuits - Testing
Telecommunication
Radio frequency
ISBN 1-5090-9088-6
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti Autonomic Computing
2006 IEEE International Test Conference
Record Nr. UNINA-9910142706203321
IEEE
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
2006 IEEE International Test Conference : Santa Clara, CA : 22-27 October 2006
2006 IEEE International Test Conference : Santa Clara, CA : 22-27 October 2006
Pubbl/distr/stampa IEEE
Disciplina 621.3815/48
Soggetto topico Integrated circuits - Testing
Electronic digital computers - Circuits - Testing
Telecommunication
Radio frequency
ISBN 1-5090-9088-6
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti Autonomic Computing
2006 IEEE International Test Conference
Record Nr. UNISA-996281106603316
IEEE
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui