2006 IEEE International Test Conference : Santa Clara, CA : 22-27 October 2006 |
Pubbl/distr/stampa | IEEE |
Disciplina | 621.3815/48 |
Soggetto topico |
Integrated circuits - Testing
Electronic digital computers - Circuits - Testing Telecommunication Radio frequency |
ISBN | 1-5090-9088-6 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
Autonomic Computing
2006 IEEE International Test Conference |
Record Nr. | UNINA-9910142706203321 |
IEEE | ||
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Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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2006 IEEE International Test Conference : Santa Clara, CA : 22-27 October 2006 |
Pubbl/distr/stampa | IEEE |
Disciplina | 621.3815/48 |
Soggetto topico |
Integrated circuits - Testing
Electronic digital computers - Circuits - Testing Telecommunication Radio frequency |
ISBN | 1-5090-9088-6 |
Formato | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
Autonomic Computing
2006 IEEE International Test Conference |
Record Nr. | UNISA-996281106603316 |
IEEE | ||
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