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2001 Conference on Advanced Research in VLSI : ARVLSI 2001 : proceedings : March 14-16, 2001, Salt Lake City, Utah / / sponsored by, the University of Utah ; technical co-sponsorship by, the IEEE Electron Devices Society ; with generous support from, Intel Corporation ; edited by, Erik Brunvard, Chris Myers
2001 Conference on Advanced Research in VLSI : ARVLSI 2001 : proceedings : March 14-16, 2001, Salt Lake City, Utah / / sponsored by, the University of Utah ; technical co-sponsorship by, the IEEE Electron Devices Society ; with generous support from, Intel Corporation ; edited by, Erik Brunvard, Chris Myers
Pubbl/distr/stampa IEEE
Disciplina 621.39/5
Altri autori (Persone) BrunvandErik
MyersChris J. <1969->
Soggetto topico Integrated circuits - Very large scale integration - Research
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti 2001 Conference on Advanced Research in VLSI
Record Nr. UNISA-996203367503316
IEEE
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui
2001 Conference on Advanced Research in VLSI : ARVLSI 2001 : proceedings : March 14-16, 2001, Salt Lake City, Utah / / sponsored by, the University of Utah ; technical co-sponsorship by, the IEEE Electron Devices Society ; with generous support from, Intel Corporation ; edited by, Erik Brunvard, Chris Myers
2001 Conference on Advanced Research in VLSI : ARVLSI 2001 : proceedings : March 14-16, 2001, Salt Lake City, Utah / / sponsored by, the University of Utah ; technical co-sponsorship by, the IEEE Electron Devices Society ; with generous support from, Intel Corporation ; edited by, Erik Brunvard, Chris Myers
Pubbl/distr/stampa IEEE
Disciplina 621.39/5
Altri autori (Persone) BrunvandErik
MyersChris J. <1969->
Soggetto topico Integrated circuits - Very large scale integration - Research
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti 2001 Conference on Advanced Research in VLSI
Record Nr. UNINA-9910872845103321
IEEE
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui