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2006 15th Asian Test Symposium / / IEEE Computer Society
| 2006 15th Asian Test Symposium / / IEEE Computer Society |
| Pubbl/distr/stampa | Los Alamitos, California : , : IEEE, , 2006 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (xxiii, 451 pages) : illustrations |
| Disciplina | 621.381548015192 |
| Soggetto topico | Electronic circuits - Testing |
| ISBN | 1-5090-9801-1 |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | 15th Asian Test Symposium |
| Record Nr. | UNISA-996198862003316 |
| Los Alamitos, California : , : IEEE, , 2006 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
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2006 15th Asian Test Symposium / / IEEE Computer Society
| 2006 15th Asian Test Symposium / / IEEE Computer Society |
| Pubbl/distr/stampa | Los Alamitos, California : , : IEEE, , 2006 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (xxiii, 451 pages) : illustrations |
| Disciplina | 621.381548015192 |
| Soggetto topico | Electronic circuits - Testing |
| ISBN | 1-5090-9801-1 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | 15th Asian Test Symposium |
| Record Nr. | UNINA-9910142739503321 |
| Los Alamitos, California : , : IEEE, , 2006 | ||
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