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Ion-solid interactions / H. Teitelbaum, W.M. Gibson
| Ion-solid interactions / H. Teitelbaum, W.M. Gibson |
| Autore | Gibson, W.M. |
| Pubbl/distr/stampa | London : INSPEC, Institution of Electrical Engineers, 1980 |
| Descrizione fisica | v. : ill. |
| Altri autori (Persone) | Teitelbaum, H. |
| Classificazione |
53(083)
53.7.18 |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISALENTO-991001037779707536 |
Gibson, W.M.
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| London : INSPEC, Institution of Electrical Engineers, 1980 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. del Salento | ||
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Properties of amorphous silicon / INSPEC
| Properties of amorphous silicon / INSPEC |
| Autore | INSPEC |
| Edizione | [2nd ed.] |
| Pubbl/distr/stampa | London : INSPEC, Institution of Electrical Engineers, 1989 |
| Descrizione fisica | xxii, 656 p. ; 29 cm. |
| Soggetto topico | Silicon |
| Classificazione |
53.8
53.8.27 620.1'93 QD131 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISALENTO-991001188229707536 |
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INSPEC
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| London : INSPEC, Institution of Electrical Engineers, 1989 | ||
| Materiale a stampa | ||
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Properties of Narrow Gap Cadmium : based compounds / edited by Peter Capper
| Properties of Narrow Gap Cadmium : based compounds / edited by Peter Capper |
| Autore | Capper, Peter |
| Pubbl/distr/stampa | London : INSPEC, Institution of Electrical Engineers, 1994 |
| Descrizione fisica | xxi, 618 p. ; 29 cm. |
| Soggetto topico | Condensed matter |
| ISBN | 0852968809 |
| Classificazione |
53.7.5
53.7.8 53.7.16 53.8 53.8.1 53.8.3 53.8.22 53.8.27 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISALENTO-991001188499707536 |
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Capper, Peter
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| London : INSPEC, Institution of Electrical Engineers, 1994 | ||
| Materiale a stampa | ||
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