2. partie: Mesures générales / Commission electrotechnique internationale, International Electrotechnical Commission
| 2. partie: Mesures générales / Commission electrotechnique internationale, International Electrotechnical Commission |
| Pubbl/distr/stampa | Geneva, : CEI, : IEC, 1975 |
| Descrizione fisica | 34 p. ; 30 cm |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione |
fre
eng |
| Record Nr. | UNISANNIO-NAP0580105 |
| Geneva, : CEI, : IEC, 1975 | ||
| Lo trovi qui: Univ. del Sannio | ||
| ||
CEI IEC 60359:2001 : appareils de mesure électroniques et électroniques - expression des performances : norme internationale / CEI, IEC
| CEI IEC 60359:2001 : appareils de mesure électroniques et électroniques - expression des performances : norme internationale / CEI, IEC |
| Autore | Commission électrotechnique internationale |
| Edizione | [3. ed] |
| Pubbl/distr/stampa | Geneva, : IEC, ©2001 |
| Descrizione fisica | 67 p. ; 30 cm |
| ISBN | 2831861179 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione |
fre
eng |
| Record Nr. | UNISANNIO-NAP0472601 |
Commission électrotechnique internationale
|
||
| Geneva, : IEC, ©2001 | ||
| Lo trovi qui: Univ. del Sannio | ||
| ||
CEI IEC 60512 : connecteurs pour équipements électroniques - essais et mesures : norme Internationale/ Commission electrotechnique internationale, International eletrotechnical commission
| CEI IEC 60512 : connecteurs pour équipements électroniques - essais et mesures : norme Internationale/ Commission electrotechnique internationale, International eletrotechnical commission |
| Autore | Commission électrotechnique internationale |
| Pubbl/distr/stampa | Gèneve, : CEI, : IEC |
| Descrizione fisica | fascicoli ; 30 cm. |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione |
fre
eng |
| Record Nr. | UNISANNIO-NAP0580091 |
Commission électrotechnique internationale
|
||
| Gèneve, : CEI, : IEC | ||
| Lo trovi qui: Univ. del Sannio | ||
| ||
CEI IEC 60748 : Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés : norme internationale / CEI, IEC
| CEI IEC 60748 : Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés : norme internationale / CEI, IEC |
| Autore | Commission électrotechnique internationale |
| Pubbl/distr/stampa | Geneva, : IEC |
| Descrizione fisica | volumi ; 30 cm |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione |
fre
eng |
| Record Nr. | UNISANNIO-NAP0550137 |
Commission électrotechnique internationale
|
||
| Geneva, : IEC | ||
| Lo trovi qui: Univ. del Sannio | ||
| ||
CEI IEC 62008:2005 : caractéristiques de performance et méthods d'étalonnage pour les systèmes d'acquisition de données numériques et logiciels appropriés : norme internationale / CEI, IEC
| CEI IEC 62008:2005 : caractéristiques de performance et méthods d'étalonnage pour les systèmes d'acquisition de données numériques et logiciels appropriés : norme internationale / CEI, IEC |
| Autore | Commission électrotechnique internationale |
| Pubbl/distr/stampa | Geneva, : IEC, ©2005 |
| Descrizione fisica | 93 p. ; 30 cm |
| ISBN | 2831881137 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione |
fre
eng |
| Record Nr. | UNISANNIO-NAP0472625 |
Commission électrotechnique internationale
|
||
| Geneva, : IEC, ©2005 | ||
| Lo trovi qui: Univ. del Sannio | ||
| ||
IEC 60679 : Quartz crystal controlled oscillators of ossessed quality : International standard / International Electrotechnical Commission
| IEC 60679 : Quartz crystal controlled oscillators of ossessed quality : International standard / International Electrotechnical Commission |
| Autore | International electrotechnical commission |
| Pubbl/distr/stampa | Geneva, : IEC |
| Descrizione fisica | fascicoli ; 30 cm |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione |
eng
fre |
| Record Nr. | UNISANNIO-NAP0556935 |
International electrotechnical commission
|
||
| Geneva, : IEC | ||
| Lo trovi qui: Univ. del Sannio | ||
| ||
IEC 60748-4-3:2006-08 : semiconductor devices - integrated circuits : Part 4-3 : integrated circuits - dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC) : international standard / CEI
| IEC 60748-4-3:2006-08 : semiconductor devices - integrated circuits : Part 4-3 : integrated circuits - dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC) : international standard / CEI |
| Autore | International electrotechnical commission |
| Pubbl/distr/stampa | Geneva, : IEC, ©2006 |
| Descrizione fisica | 36 p. ; 30 cm |
| Soggetto topico | Semiconduttori - Standardizzazione |
| ISBN | 2831887887 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISANNIO-NAP0472635 |
International electrotechnical commission
|
||
| Geneva, : IEC, ©2006 | ||
| Lo trovi qui: Univ. del Sannio | ||
| ||
IEC 61280 : Fibre optic communication subsystem test procedures : International standard / International Electrotechnical Commission
| IEC 61280 : Fibre optic communication subsystem test procedures : International standard / International Electrotechnical Commission |
| Autore | International electrotechnical commission |
| Pubbl/distr/stampa | Geneva, : IEC |
| Descrizione fisica | fascicoli ; 30 cm |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione |
eng
fre |
| Record Nr. | UNISANNIO-NAP0556953 |
International electrotechnical commission
|
||
| Geneva, : IEC | ||
| Lo trovi qui: Univ. del Sannio | ||
| ||
IEC e-tech : the newsletter of the IEC / International Electrotechnical Commission
| IEC e-tech : the newsletter of the IEC / International Electrotechnical Commission |
| Pubbl/distr/stampa | Genf, : IEC, 1999- |
| Descrizione fisica | Online-Ressource |
| Disciplina | 620 |
| Soggetto genere / forma | Zeitschrift |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Periodico |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910893349403321 |
| Genf, : IEC, 1999- | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
| ||
International standard ISO/IEC 25000:2005 : Software engineering - Software product quality requirements and evaluation (SQuaRE) - Guide to SQuaRE / International Organization for standardization, International Electrotechnical Commission
| International standard ISO/IEC 25000:2005 : Software engineering - Software product quality requirements and evaluation (SQuaRE) - Guide to SQuaRE / International Organization for standardization, International Electrotechnical Commission |
| Autore | International organization for standardization |
| Pubbl/distr/stampa | Geneva, : ISO, : IEC, 2005 |
| Descrizione fisica | VI, 41 p. ; 30 cm |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione |
eng
fre |
| Record Nr. | UNISANNIO-NAP0474805 |
International organization for standardization
|
||
| Geneva, : ISO, : IEC, 2005 | ||
| Lo trovi qui: Univ. del Sannio | ||
| ||