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Semiconductor reliability : based on the Conference on reliability assurance techniques for semiconductor specifications, october 1961, Washington, D.C. ...[etc.] / Edited by William H. Von Alven
| Semiconductor reliability : based on the Conference on reliability assurance techniques for semiconductor specifications, october 1961, Washington, D.C. ...[etc.] / Edited by William H. Von Alven |
| Autore | Alven, William H. von |
| Pubbl/distr/stampa | New Jersey : Engineering publishers, c1962 |
| Descrizione fisica | v. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina | 621.381'5 |
| Soggetto non controllato | Semiconduttori - Affidabilità - Congressi |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-990000491900403321 |
Alven, William H. von
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| New Jersey : Engineering publishers, c1962 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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Static relays for electronic circuits / edited by Richard F. Blake
| Static relays for electronic circuits / edited by Richard F. Blake |
| Autore | Blake, Richard F. |
| Pubbl/distr/stampa | New Jersey : Engineering publishers, ©1961 |
| Descrizione fisica | 198 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina | 621.381'51 |
| Soggetto non controllato | Relè elettrici |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-990000456290403321 |
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Blake, Richard F.
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| New Jersey : Engineering publishers, ©1961 | ||
| Materiale a stampa | ||
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