Introduction to modern power electronics / / Andrzej M. Trzynadlowski
| Introduction to modern power electronics / / Andrzej M. Trzynadlowski |
| Autore | Trzynadlowski Andrzej |
| Edizione | [Third edition.] |
| Pubbl/distr/stampa | Hoboken, New Jersey : , : Wiley, , 2016 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (471 pages) : illustrations, charts, tables, graphs |
| Disciplina | 621.31/7 |
| Soggetto topico | Power electronics |
| ISBN |
1119003229
9781119003229 |
| Classificazione |
549.8
621.31/7 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910796073303321 |
Trzynadlowski Andrzej
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| Hoboken, New Jersey : , : Wiley, , 2016 | ||
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Introduction to modern power electronics / / Andrzej M. Trzynadlowski
| Introduction to modern power electronics / / Andrzej M. Trzynadlowski |
| Autore | Trzynadlowski Andrzej |
| Edizione | [Third edition.] |
| Pubbl/distr/stampa | Hoboken, New Jersey : , : Wiley, , 2016 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (471 pages) : illustrations, charts, tables, graphs |
| Disciplina | 621.31/7 |
| Soggetto topico | Power electronics |
| ISBN |
1119003229
9781119003229 |
| Classificazione |
549.8
621.31/7 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910820180003321 |
Trzynadlowski Andrzej
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| Hoboken, New Jersey : , : Wiley, , 2016 | ||
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Semiconductor material and device characterization [[electronic resource] /] / Dieter K. Schroder
| Semiconductor material and device characterization [[electronic resource] /] / Dieter K. Schroder |
| Autore | Schroder Dieter K |
| Edizione | [3rd ed.] |
| Pubbl/distr/stampa | [Piscataway, NJ], : IEEE Press |
| Descrizione fisica | 1 online resource (799 p.) |
| Disciplina | 621.3815/2 |
| Soggetto topico |
Semiconductors
Semiconductors - Testing |
| ISBN |
1-280-65470-8
9786610654703 0-470-36250-2 0-471-74909-5 0-471-74908-7 |
| Classificazione |
549.8
621.3815/2 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Nota di contenuto | Resistivity -- Carrier and doping density -- Contact resistance and Schottky barriers -- Series resistance, channel length and width, and threshold voltage -- Defects -- Oxide and interface trapped charges, oxide thickness -- Carrier lifetimes -- Mobility -- Charge-based and probe characterization -- Optical characterization -- Chemical and physical characterization -- Reliability and failure analysis. |
| Record Nr. | UNISA-996202345903316 |
Schroder Dieter K
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| [Piscataway, NJ], : IEEE Press | ||
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Semiconductor material and device characterization [[electronic resource] /] / Dieter K. Schroder
| Semiconductor material and device characterization [[electronic resource] /] / Dieter K. Schroder |
| Autore | Schroder Dieter K |
| Edizione | [3rd ed.] |
| Pubbl/distr/stampa | [Piscataway, NJ], : IEEE Press |
| Descrizione fisica | 1 online resource (799 p.) |
| Disciplina | 621.3815/2 |
| Soggetto topico |
Semiconductors
Semiconductors - Testing |
| ISBN |
1-280-65470-8
9786610654703 0-470-36250-2 0-471-74909-5 0-471-74908-7 |
| Classificazione |
549.8
621.3815/2 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Nota di contenuto | Resistivity -- Carrier and doping density -- Contact resistance and Schottky barriers -- Series resistance, channel length and width, and threshold voltage -- Defects -- Oxide and interface trapped charges, oxide thickness -- Carrier lifetimes -- Mobility -- Charge-based and probe characterization -- Optical characterization -- Chemical and physical characterization -- Reliability and failure analysis. |
| Record Nr. | UNINA-9910830976103321 |
Schroder Dieter K
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| [Piscataway, NJ], : IEEE Press | ||
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Semiconductor material and device characterization / / Dieter K. Schroder
| Semiconductor material and device characterization / / Dieter K. Schroder |
| Autore | Schroder Dieter K |
| Edizione | [3rd ed.] |
| Pubbl/distr/stampa | [Piscataway, NJ], : IEEE Press |
| Descrizione fisica | 1 online resource (799 p.) |
| Disciplina | 621.3815/2 |
| Soggetto topico |
Semiconductors
Semiconductors - Testing |
| ISBN |
1-280-65470-8
9786610654703 0-470-36250-2 0-471-74909-5 0-471-74908-7 |
| Classificazione |
549.8
621.3815/2 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Nota di contenuto | Resistivity -- Carrier and doping density -- Contact resistance and Schottky barriers -- Series resistance, channel length and width, and threshold voltage -- Defects -- Oxide and interface trapped charges, oxide thickness -- Carrier lifetimes -- Mobility -- Charge-based and probe characterization -- Optical characterization -- Chemical and physical characterization -- Reliability and failure analysis. |
| Record Nr. | UNINA-9910877632003321 |
Schroder Dieter K
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| [Piscataway, NJ], : IEEE Press | ||
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パワーデバイス / / 山本秀和著
| パワーデバイス / / 山本秀和著 |
| Pubbl/distr/stampa | 東京, : コロナ社, 2012.2 |
| Descrizione fisica | オンライン資料1件 |
| Altri autori (Persone) | 山本秀和 |
| Soggetto topico |
半導体
パワーエレクトロニクス |
| ISBN |
4-339-10831-6
4-339-20831-0 |
| Classificazione | 549.8 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | jpn |
| Altri titoli varianti | Power devices |
| Record Nr. | UNINA-9910149132403321 |
| 東京, : コロナ社, 2012.2 | ||
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マンガでわかる半導体
| マンガでわかる半導体 |
| Pubbl/distr/stampa | 東京, : オーム社, 2010.4 |
| Descrizione fisica | オンライン資料1件 |
| Altri autori (Persone) |
渋谷道雄
高山ヤマ トレンド・プロ |
| Soggetto topico | 半導体 |
| ISBN |
9784274802294
4274802299 |
| Classificazione | 549.8 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | jpn |
| Nota di contenuto | 表紙 -- クレジット -- まえがき -- 目次 -- プロローグ 俺とメイドとカレーライス -- 第1章 半導体ってなんだろう -- 1 半導体とは -- ・どこに注目するか -- ・導体と絶縁体 -- 2 産業のコメ -- ・IC -- ・トランジスタ -- 3 高速化するIC -- ・FET -- 4 パソコン関連以外のIC -- ・マイコンとは -- ・電源回路 -- ・ダイオード -- ・LED -- ・その他の半導体製品 -- 5 フォローアップ -- ・シリコンバレーの発祥の地 -- ・トランジスタ -- ・IT、PC、CPU -- ・ゴードン・ムーアとムーアの法則 -- 第2章 アナログとデジタルの世界 -- 1 人間の五感はほぼアナログ -- 2 デジタルとは1と0のこと? -- ・2値論理 -- ・bit(ビット) -- 3 標本化と量子化 -- ・ブール代数 -- ・論理回路 -- ・正論理と負論理 -- ・2値論理 -- 4 デジタル信号 -- ・ハイレベルとローレベル -- 5 フォローアップ -- ・携帯電話の場合 -- ・ブール代数 -- 第3章 半導体部品とその材料 -- 1 導体(金属・半金属など)の比較 -- ・導体 -- ・オームの法則の利用 -- ・比抵抗 -- 2 シリコンやゲルマニウム -- ・比抵抗の温度依存性 -- ・周辺の学問・技術 -- 第4章 さまざまな物質の原点、それは原子 -- 1 原子の構造と周期表 -- ・電子のエネルギー状態 -- ・整流特性 -- ・原子の集まり、分子と結晶 -- 2 フォローアップ -- ・周期表の補足解説 -- ・真性半導体とエネルギー・バンド構造の補足 -- 第5章 不純物を少し混ぜたシリコン単結晶 -- 不純半導体のエネルギーバンド -- ・結晶は平面でなく立体 -- ・ドナーレベル -- 第6章 不純物半導体の応用、ダイオードとトランジスタ -- 1 シリコンダイオード -- 2 トランジスタ -- ・バイポーラトランジスタ -- ・FET(電界効果トランジスタ) -- 3 フォローアップ -- ・CPUなどの基本構成要素、論理回路の基本的な構造 -- ・バイポーラ・トランジスタ(npn型)の動作概念 -- エピローグ -- 周期表 -- 索引 -- 参考文献・図書 -- 著者紹介 -- 奥付. |
| Altri titoli varianti | The manga guide to semiconductor |
| Record Nr. | UNINA-9910149148603321 |
| 東京, : オーム社, 2010.4 | ||
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半導体・MEMSのための超臨界流体
| 半導体・MEMSのための超臨界流体 |
| Pubbl/distr/stampa | 東京, : コロナ社, 2012.9 |
| Descrizione fisica | オンライン資料1件 |
| Altri autori (Persone) |
近藤英一
上野和良 内田寛 曽根正人 生津英夫 服部毅 堀照夫 森口誠 |
| Soggetto topico |
半導体
マイクロマシン 超臨界流体 マイクロエレクトロニクス |
| ISBN |
9784339108378
4339108375 9784339208375 433920837X |
| Classificazione |
549.8
431.8 431.3 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | jpn |
| Altri titoli varianti | 半導体MEMSのための超臨海流体 |
| Record Nr. | UNINA-9910149131303321 |
| 東京, : コロナ社, 2012.9 | ||
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半導体工学
| 半導体工学 |
| Edizione | [第3版] |
| Pubbl/distr/stampa | 東京, : 森北出版, 2013.10 |
| Descrizione fisica | オンライン資料1件 |
| Altri autori (Persone) |
高橋清
山田陽一 |
| Soggetto topico | 半導体 |
| ISBN |
9784627303713
4627303718 |
| Classificazione | 549.8 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | jpn |
| Nota di contenuto | 紙 -- 第3版序文 -- 第2版序文 -- 初版序文 -- 目次 -- 1章 子 入 -- 1.1 粒子と波動 -- 1.2 波束および群 度 -- 1.3 ド・ブロイの 係式 -- 1.4 シュレーディンガーの波動方程式 -- 1.5 束縛粒子 -- 1.6 フェルミエネルギー -- 1.7 状態密度 数 -- 1.8 トンネル効果 -- 演習問 -- 2章 固体の帯理 -- 2.1 帯理 の定性的な 明 -- 2.2 導体・半導体・絶縁体のエネルギー帯構 -- 2.3 波動方程式による帯理 の導出 -- 演習問 -- 3章 統 力学の基礎 -- 3.1 エネルギー分布則の種 -- 3.2 フェルミ-ディラックの分布 数 -- 演習問 -- 4章 半導体と 導機構 -- 4.1 半導体の歴史的経緯 -- 4.2 半導体の 気伝導現 -- 4.3 真性半導体中のキャリア濃度 -- 4.4 外因性半導体中のキャリア濃度 -- 4.5 キャリアの再結合 -- 4.6 続の方程式 -- 4.7 キャリアの移動度 -- 4.8 アインシュタインの 係式 -- 4.9 半導体材料の種 -- 4.10 p型,n型への変換 -- 演習問 -- 5章 p-n接合 -- 5.1 p-n接合のエネルギー準位図 -- 5.2 p-n接合の 圧- 流特性 -- 5.3 p-n接合の 方向 伏現 -- 5.4 p-n接合の接合容 -- 5.5 トンネル(エサキ)ダイオード -- 演習問 -- 6章 ヘテロ接合と 属-半導体接 -- 6.1 ヘテロ接合 -- 6.2 ヘテロ接合のエネルギー準位図 -- 6.3 ヘテロ接合の 流 機構 -- 6.4 ヘテロ接合の 子素子への応用 -- 6.5 属-半導体接 -- 6.6 属-半導体接 のエネルギー準位図 -- 6.7 ベーテのダイオード理 -- 演習問 -- 7章 トランジスタと 積回 -- 7.1 トランジスタの分 -- 7.2 接合型トランジスタ -- 7.3 界効果トランジスタ(FET) -- 7.4 スイッチング用トランジスタ -- 7.5 結合素子(CCD) -- 7.6 積回 -- 演習問 -- 8章 半導体の光学的性 -- 8.1 光と物 との相互作用 -- 8.2 半導体からの発光 -- 8.3 光 効果 -- 演習問 -- 9章 発光デバイスと受光デバイス -- 9.1 発光ダイオード -- 9.2 半導体レーザダイオード -- 9.3 太 池 -- 9.4 フォトダイオード,フォトトランジスタ -- 9.5 オプトエレクトロニクス -- 演習問 -- 10章 半導体の各種性 -- 10.1 熱 的性 -- 10.2 磁 効果 -- 10.3 ひずみ抵抗効果 -- 演習問 -- 11章 子効果デバイス -- 11.1 格子 -- 11.2 人工格子 -- 11.3 子井戸 -- 11.4 子 から 子細線, 子箱,さらには 子点へ -- 11.5 エニオン(Anyon) -- 11.6 子の粒子性から波動性へ -- 11.7 子効果デバイスの特徴 -- 11.8 インコヒーレント 子波からコヒーレント 子波へ -- 11.9 AB効果 -- 11.10 キャリアからプロパゲータへ -- 12章 21世紀のエレクトロニクス -- 12.1 20世紀の科学技 -- 12.2 子情報科学の3本柱 -- 12.3 子コンピュータ -- 12.4 子暗号 -- 12.5 子情報 信 -- 12.6 子物理学は本当に無敗か? -- エピローグ -- 付 -- 1 各種半導体の物性定数 -- 2 物理定数 -- 3 単位(SI)の接 -- 演習問 答 -- さくいん -- 奥付. |
| Altri titoli varianti | Semiconductor physics |
| Record Nr. | UNINA-9910160702103321 |
| 東京, : 森北出版, 2013.10 | ||
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高校化学からはじめる半導体 / / 市村正也著
| 高校化学からはじめる半導体 / / 市村正也著 |
| Pubbl/distr/stampa | 東京, : オーム社, 2011.3 |
| Descrizione fisica | オンライン資料1件 |
| Altri autori (Persone) | 市村正也 |
| Soggetto topico | 半導体 |
| ISBN | 4-274-83056-X |
| Classificazione | 549.8 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | jpn |
| Nota di contenuto |
紙 -- はじめに -- 目次 -- 第0章 半導体の発 これは物理学 それとも化学 -- 1. 物理学と化学 -- 2. 半導体の発 ではなかったこと -- 3. 半導体の発 -- 4. 半導体とは -- 5. ファラデー後 -- 6. 光伝導 -- 7. ダイオード -- 8. 半導体エレクトロニクス -- 9. 半導体は発 されたか -- 10. バンド理 -- 11. トランジスタ -- 12. 理 と現実 -- 13. 再び 物理学と化学 -- 第1章 校"バケガク"総復習 -- 1-1 物 の成り立ち -- 1-1.1 原子の構 -- 1-1.2 子の性 子力学 物理の復習1) -- 1-1.3 子のエネルギー準位 物理の復習2) -- 1-1.4 子 置と周期 -- 1-1.5 イオン -- 1-1.6 イオン結合とイオン結晶 -- 1-1.7 共有結合 -- 1-1.8 子の と分子・結晶の形 -- 1-1.9 属結合と 属結晶 -- 1-2 物 の変化 -- 1-2.1 化学反応と反応熱 -- 1-2.2 物 の三態と状態図 -- 1-2.3 化学平 の法則 -- 1-2.4 化学平 の法則 つづき) -- 1-2.5 反応 度と活性化エネルギー -- 1-2.6 溶液の性 -- 1-2.7 と塩基 平 -- 1-2.8 中和反応 化 元反応 -- 演習問 -- 第2章 半導体とは何か -- 2-1 半導体とは -- 2-1.1 結合 と反結合 -- 2-1.2 分子から結晶へ バンド構 ) -- 2-1.3 導体と絶縁体 -- 2-1.4 半導体とは -- 2-1.5 子と正孔 -- 2-1.6 有効 -- 2-2 半導体中のキャリア -- 2-2.1 不純物ドーピング -- 2-2.2 子密度と正孔密度の 算 -- 2-2.3 フェルミ準位 -- 2-2.4 ドナー アクセプタのイオン化率とフェルミ・ディラック分布 数 -- 2-2.5 ドナーとアクセプタの分布 数 発展 -- 2-2.6 温度とキャリア密度の 係1 -- 2-2.7 温度とキャリア密度の 係2 発展 -- 2-2.8 実効状態密度の 算 発展 -- 2-3 半導体の性 -- 2-3.1 界による 気伝導 -- 2-3.2 ホール効果 -- 2-3.3 キャリアの拡散 -- 2-3.4 発生と再結合 -- 2-3.5 欠 準位を介した再結合 -- 2-3.6 欠 準位を介した発生 -- 2-3.7 再結合発生の一 的な理 発展 -- 2-3.8 続の式 -- 2-3.9 半導体中の欠 -- 2-3.10 光と半導体 -- 演習問 -- 第3章 半導体は○○からできている -- 3-1 半導体材料 -- 3-1.1 14 Ⅳ 族半導体 C Si Ge Sn -- 3-1.2 シリコン -- 3-1.3 Ⅳ族の混晶半導体と化合物半導体 -- 3-1.4 Ⅲ-Ⅴ族半導体とⅡ-Ⅵ族半導体 -- 3-1.5 カルコパイライト半導体 -- 3-1.6 いろいろな半導体1 硫化物 -- 3-1.7 いろいろな半導体2 化物 -- 3-1.8 いろいろな半導体3 有機物 -- 3-1.9 化合物のドーピングと欠 -- 3-2 半導体の作り方 -- 3-2.1 半導体の作り方1 単結晶ウエーハ -- 3-2.2 半導体の作り方2 液と溶液 エピタキシー -- 3-2.3 半導体の作り方3 気相と真空 -- 3-2.4 半導体の作り方4 気体分子の化学反応 -- 3-2.5 半導体の作り方5 水溶液からの合成法 -- 3-2.6 アモルファス半導体 -- 3-2.7 子井戸構 と 格子 -- 演習問 -- 第4章 半導体デバイスを分析する -- 4-1 pn接合 -- 4-1.1 拡散とポテンシャル差 -- 4-1.2 pn接合の界 で こること -- 4-1.3 pn接合のバンド図 -- 4-1.4 pn接合での 界と 位発展 -- 4-1.5 pn接合でのキャリアの動き -- 4-1.6 pn接合の 流 -- 4-1.7 pn接合の 気容 -- 4-1.8 属半導体接 -- 4-2 トランジスタと光デバイス -- 4-2.1 バイポーラトランジスタ -- 4-2.2 MOS MIS 構 -- 4-2.3 MOS 界効果トランジスタ -- 4-2.4 受光デバイス.
4-2.5 太 池 -- 4-2.6 発光ダイオード LED) -- 4-2.7 半導体レーザ -- 演習問 -- 第5章 積回 の作り方 -- 5-1 不純物拡散 -- 5-2 イオン打ち み -- 5-3 化 -- 5-4 エッチング -- 5-5 フォトリソグラフィの原理 -- 5-6 フォトリソグラフィによる 積回 作 -- 5-7 積回 とは -- 演習問 -- 参 文献 -- 演習問 答・ -- 索引 -- 奥付. |
| Altri titoli varianti | 半導体 : 高校化学からはじめる |
| Record Nr. | UNINA-9910148967703321 |
| 東京, : オーム社, 2011.3 | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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