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Compton scattering / edited by Brian Williams
| Compton scattering / edited by Brian Williams |
| Autore | Williams, Brian |
| Pubbl/distr/stampa | New York : McGraw-Hill Book Co., 1977 |
| Descrizione fisica | xv, 366 p. : ill. ; 24 cm. |
| Soggetto topico | Compton effect |
| ISBN | 0070703604 |
| Classificazione |
53.0.692
53.3.3 53.5.23 53.8.1 539.7'54 QC794.6.S3 |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISALENTO-991000862159707536 |
Williams, Brian
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| New York : McGraw-Hill Book Co., 1977 | ||
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The electromagnetic interaction in nuclear spectroscopy / W. Hamilton
| The electromagnetic interaction in nuclear spectroscopy / W. Hamilton |
| Autore | Hamilton, W. |
| Pubbl/distr/stampa | Amsterdam : North-Holland Publ. Co., 1975 |
| Descrizione fisica | xi, 941 p. : ill. ; 25 cm. |
| Soggetto topico | Nuclear spectroscopy |
| Classificazione |
53.0.692
53.4.1 53.4.2 539.7 QC762 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISALENTO-991000908729707536 |
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Hamilton, W.
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| Amsterdam : North-Holland Publ. Co., 1975 | ||
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Elementary radiation physics / G. Hurst, J.S. Turner
| Elementary radiation physics / G. Hurst, J.S. Turner |
| Autore | Hurst, G. |
| Pubbl/distr/stampa | New York : John Wiley & Sons, 1970 |
| Descrizione fisica | 166 p. : ill. ; 23 cm. |
| Altri autori (Persone) | Turner, J.S. |
| Soggetto topico | Radiation |
| Classificazione |
53.0.67
53.0.692 53.5.23 539.7'2 QC475 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISALENTO-991000918139707536 |
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Hurst, G.
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| New York : John Wiley & Sons, 1970 | ||
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5 fifth International Congress on x-ray optics and microanalysis : Tubingen, September 9th-14th, 1968 / K. Gaukler, G. Mollenstedt (eds.)
| 5 fifth International Congress on x-ray optics and microanalysis : Tubingen, September 9th-14th, 1968 / K. Gaukler, G. Mollenstedt (eds.) |
| Autore | International Congress on x-ray optics and microanalysis |
| Pubbl/distr/stampa | Berlin : Springer-Verlag, 1969 |
| Descrizione fisica | xii, 612 p. : ill. ; 28 cm. |
| Altri autori (Persone) |
Mollenstedt, G.
Gaukler, K. |
| Collana | Proceedings of the International Congress on x-ray optics and microanalysis ; 5 |
| Soggetto topico |
Microchemistry
Microradiography Microscopy Probes X-rays |
| Classificazione |
53(082.2)
53.0.692 53.9.7 544'.8 QD98 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISALENTO-991000945799707536 |
|
International Congress on x-ray optics and microanalysis
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| Berlin : Springer-Verlag, 1969 | ||
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Handbook of X-ray spectrometry : methods and techniques / edited by René E. van Grieken, Andrzej A. Markowicz
| Handbook of X-ray spectrometry : methods and techniques / edited by René E. van Grieken, Andrzej A. Markowicz |
| Autore | Grieken, Rene : van |
| Pubbl/distr/stampa | New York, NY : Marcel Dekker, c1993 |
| Descrizione fisica | xiv, 704 p. : ill. ; 26 cm. |
| Altri autori (Persone) | Markowicz, Andrzej |
| Collana | Practical spectroscopy series ; 14 |
| Soggetto topico | X-ray spectroscopy |
| ISBN | 0824784839 |
| Classificazione |
53.0.692
53.8.8 543.08586 QD96.X2 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISALENTO-991000989959707536 |
|
Grieken, Rene : van
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| New York, NY : Marcel Dekker, c1993 | ||
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Introduction to X-ray spectrometric analysis / E.P. Bertin
| Introduction to X-ray spectrometric analysis / E.P. Bertin |
| Autore | Bertin, E.P. |
| Pubbl/distr/stampa | New York : Plenum Press, 1978 |
| Descrizione fisica | xiv, 485 p. : ill. ; 24 cm. |
| Soggetto topico |
Spectrometry
X-ray spectrometry |
| Classificazione |
53.0.692
53.5.23 543'.085 QD96 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISALENTO-991001030659707536 |
|
Bertin, E.P.
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| New York : Plenum Press, 1978 | ||
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Methods in x-ray crystallography / J.W. Jeffery
| Methods in x-ray crystallography / J.W. Jeffery |
| Autore | Jeffery, J.W. |
| Pubbl/distr/stampa | London : Academic Press, 1971 |
| Descrizione fisica | xxix, 571 p. : ill. ; 24 cm. |
| Soggetto topico | X-ray crystallography |
| Classificazione |
53.0.692
53.7.1 53.7.3 53.8.8 548'.83 QD945 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISALENTO-991001083709707536 |
|
Jeffery, J.W.
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| London : Academic Press, 1971 | ||
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Microscopia / Marco Durante, Guido Russo
| Microscopia / Marco Durante, Guido Russo |
| Autore | Durante, Marco |
| Pubbl/distr/stampa | Napoli : EdiSes, c1995 |
| Descrizione fisica | 171 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina | 502.82 |
| Altri autori (Persone) | Russo, Guidoauthor |
| Soggetto topico | Microscopy |
| ISBN | 8879590588 |
| Classificazione | 53.0.692 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | ita |
| Record Nr. | UNISALENTO-991000500939707536 |
|
Durante, Marco
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| Napoli : EdiSes, c1995 | ||
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Nondestructive evaluation of materials : proceedings of a Symposium sponsored by ASTM Committee D-30 on High Modulus Fibers and their composites, American Society for Testing and Materials, Philadelphia, 10-11 October 1978 7 edited by J. Burke and V. Weiss
| Nondestructive evaluation of materials : proceedings of a Symposium sponsored by ASTM Committee D-30 on High Modulus Fibers and their composites, American Society for Testing and Materials, Philadelphia, 10-11 October 1978 7 edited by J. Burke and V. Weiss |
| Autore | Symposium on nondestructive evaluation of materials |
| Pubbl/distr/stampa | New York : Plenum Press, 1979 |
| Descrizione fisica | 358 p. : ill. ; 24 cm. |
| Altri autori (Persone) |
Burke, J.
Weiss, V. |
| Soggetto topico |
Composite materials
Fibrous composites Nondestructive testing |
| Classificazione |
53(082.2)
53.0.64 53.0.692 620.1'187 TA418.9 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISALENTO-991001108229707536 |
|
Symposium on nondestructive evaluation of materials
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| New York : Plenum Press, 1979 | ||
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Optical systems for soft X rays / Alan G. Michette
| Optical systems for soft X rays / Alan G. Michette |
| Autore | Michette, Alan G. |
| Pubbl/distr/stampa | New York : Plenum Press, c1986 |
| Descrizione fisica | ix, 334 p. : ill. ; 24 cm |
| Soggetto topico | Electron microscopy |
| ISBN | 0306423200 |
| Classificazione |
53.0.692
53.8.8 539.7222 QC482.G68 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISALENTO-991001128859707536 |
|
Michette, Alan G.
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| New York : Plenum Press, c1986 | ||
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